公开(公告)号：CN112432966A

公开(公告)日：2021-03-02

申请号：CN202011463364.5

申请日：2020-12-14

Applicant: 南京工程学院

Inventor： 关庆庆 ,  张东平 ,  曹茹茹 ,  许磊 ,  孙晓旭 ,  徐晔 ,  杨邻蜀

IPC: G01N23/2273 ,  C08F251/00 ,  C08F220/34

Abstract: 本发明涉及一种壳聚糖接枝改性聚合物的微结构表征方法，该方法通过接枝改性壳聚糖进行X射线光电子能谱(XPS)和接枝率测定，分析计算得到其支链密度和支链长度结构特征。在XPS N1s的能谱图当中，399±1eV和401.5±1eV处的谱峰分别对应壳聚糖主链上的‑NH2与‑NH‑对应，通过XPS N1s谱图可得到‑NH2与‑NH‑相对含量，即可得到待表征物质的支链密度，再将接枝率除以支链密度即可得到待表征物质的支链长度。该方法将传统的一维结构特征（接枝率）扩展到二维结构特征（支链密度和支链长度），这是一种质的飞跃，将为相关壳聚糖的接枝改性和应用研究提供良好的实际的数据依据，为理解接枝改性壳聚糖的结构性质提供良好的基础。