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发明公开
一种回转构件表面缺陷检测装置、检测方法及标定方法无效

公开(公告)号：CN113702384A

公开(公告)日：2021-11-26

申请号：CN202110810620.1

申请日：2021-07-19

Applicant: 南京工程学院

Inventor： 郝飞 , 邓正平 , 孙莉莉 , 胡运涛 , 何余杰 , 周鑫宇 , 宋佳潼 , 朱超涵

IPC: G01N21/88 , G01N21/01

Abstract: 本发明公开了机械制造领域的一种回转构件表面缺陷检测装置、检测方法及标定方法，旨在解决目前机械制造过程中，对大型回转构件的表面缺陷检测效果不理想的技术问题。其包括：分布式单目线结构光检测系统以及传动装置，分布式单目线结构光检测系统包括设置于同一平面四角的四组检测机构，每组检测机构包括线激光器以及相机；传动装置用于带动待测回转构件进行水平位移，位移的轨迹垂直贯穿于上述平面中部。本发明能够有效应用于大型构件表面检测，且整个检测过程无需人工干预，自动化程度较高，便于后续的矫正处理操作。

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