公开(公告)号：CN101702237B

公开(公告)日：2011-11-23

申请号：CN200910213093.5

申请日：2009-11-10

Applicant: 南京大学

Inventor： 唐杰 ,  武港山 ,  李素云

IPC: G06T7/00

Abstract: 一种基于二次误差测度的层位面拟合方法，包括以下步骤：数据输入及预处理；拟合区域确定；计算采样点的二次误差测度矩阵；将采样点分配给每个待调整的网格顶点；利用二次误差测度矩阵调整网格顶点。本发明提出一种基于二次误差测度的层位面拟合方法，可以根据输入的采样点和断层面，对已重构的层位面进行变形，使得变形后的层位面更符合输入点的形状。相对于现有的网格变形方法，本发明使用简便，速度快，可以较好地解决网格模型局部变形的问题。

公开(公告)号：CN101702237A

公开(公告)日：2010-05-05

申请号：CN200910213093.5

申请日：2009-11-10

Applicant: 南京大学

Inventor： 唐杰 ,  武港山 ,  李素云

IPC: G06T7/00

Abstract: 一种基于二次误差测度的层位面拟合方法，包括以下步骤：数据输入及预处理；拟合区域确定；计算采样点的二次误差测度矩阵；将采样点分配给每个待调整的网格顶点；利用二次误差测度矩阵调整网格顶点。本发明提出一种基于二次误差测度的层位面拟合方法，可以根据输入的采样点和断层面，对已重构的层位面进行变形，使得变形后的层位面更符合输入点的形状。相对于现有的网格变形方法，本发明使用简便，速度快，可以较好地解决网格模型局部变形的问题。