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公开(公告)号：CN119294545A
公开(公告)日：2025-01-10
申请号：CN202411533583.4
申请日：2024-10-30
Applicant: 南京大学
Abstract: 本发明公开一种基于受控量子测量过程的量子系统密度矩阵直接表征的方法，属于量子信息科学领域，能够实现对一般的多粒子连续变量量子系统密度矩阵进行直接表征。本发明通过引入控制量子比特对量子系统进行受控的量子测量，将待测密度矩阵元素转移到控制量子比特中，设计受控量子测量过程实现任意密度矩阵元的转移，从而实现对一般的多粒子连续变量量子系统密度矩阵的直接表征。本发明的表征方法包含以下步骤：对于多粒子连续变量量子系统，选用同样粒子数的二能级量子纠缠态作为控制量子比特，量子系统经过受控量子测量过程，其待测密度矩阵元素将转移至纠缠的控制量子比特中，通过测量控制量子比特，实现对多粒子系统密度矩阵元素的直接表征。
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