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公开(公告)号：CN119277219A
公开(公告)日：2025-01-07
申请号：CN202411344100.6
申请日：2024-09-25
Applicant: 南京大学
IPC: H04N25/68 , H04N25/768 , H04N25/773
Abstract: 一种时间延迟积分SPAD阵列的坏点检测、屏蔽与恢复方法，包括如下步骤：步骤一：对工作在检测模式下时间延迟积分SPAD阵列中每个像素在一个曝光周期内的计数值进行检测；步骤二：依次输出所有光子的计数值并依据计数值检测结果判断当前像素是否为坏点并记录坏点位置，由坏点位置得到屏蔽矩阵，并依据屏蔽矩阵实现对坏点像素的屏蔽；步骤三：当SPAD阵列工作于TDI模式时最后一级像素完成曝光后输出光子计数值，依据该计数值所在屏蔽矩阵行中屏蔽像素数完成计数值恢复。本发明将SPAD像素坏点屏蔽技术与时间延迟积分SPAD阵列相结合，通过屏蔽技术与恢复技术的共用有效降低了SPAD阵列中某级坏点像素对整级光子计数值的影响，极大地提高了SPAD阵列的有效性和稳定性。
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