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公开(公告)号：CN115931807A
公开(公告)日：2023-04-07
申请号：CN202211648293.5
申请日：2022-12-21
Applicant: 南京大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明的目的是提供一种获取粒子表面高分子在流场中的构象信息的方法，该方法利用高分子链上荧光基团对的非辐射荧光能量转移，实现剪切场中接枝在粒子表面的高分子链的构象的实时检测，检测精度可以达级。通过本方法，可以得出不同分子量、不同接枝率的纳米粒子表面高分子链构象随剪切速率变化的一般规律，从而在要求纳米粒子表面的高分子链在特定剪切速率中维持特定构象的场景中，根据所得的规律确定目标纳米粒子表面接枝的高分子的链长、接枝密度等参数，为实现精确纳米制造提供保障。
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