一种高量化分辨率的全光级联量化系统及方法

    公开(公告)号:CN110784267A

    公开(公告)日:2020-02-11

    申请号:CN201911315192.4

    申请日:2019-12-19

    Inventor: 邓韦 康哲

    Abstract: 本发明公开了一种高量化分辨率的全光级联量化系统及方法,能显著提高量化分辨率。新型全光ADC的第一级量化模块采用内嵌相位调制器(Phase Modulator-PM)的Sagnac环路结构的PSOQ模块,第二级量化模块采用具有特殊分光比设计的串联分光器,以及额外一路被强度调制器(Intensity Modulator-IM)调制的标记信道。通过此附加的标记信道,将第一级PSOQ模块工作于多相位周期时所产生的重复信息进行区分标定,从而有效提高量化分辨率。

    一种高量化分辨率的全光级联量化系统及方法

    公开(公告)号:CN110784267B

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN201911315192.4

    申请日:2019-12-19

    Inventor: 邓韦 康哲

    Abstract: 本发明公开了一种高量化分辨率的全光级联量化系统及方法,能显著提高量化分辨率。新型全光ADC的第一级量化模块采用内嵌相位调制器(Phase Modulator‑PM)的Sagnac环路结构的PSOQ模块,第二级量化模块采用具有特殊分光比设计的串联分光器,以及额外一路被强度调制器(Intensity Modulator‑IM)调制的标记信道。通过此附加的标记信道,将第一级PSOQ模块工作于多相位周期时所产生的重复信息进行区分标定,从而有效提高量化分辨率。

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