一种大气气溶胶快速检测溯源装置及方法

    公开(公告)号:CN113092450A

    公开(公告)日:2021-07-09

    申请号:CN202110397734.8

    申请日:2021-04-13

    Abstract: 本发明公开了一种大气气溶胶快速检测溯源装置及方法,包括激光器、聚焦透镜、信号探头、光纤、光谱仪、计算机、吸气泵、临时存储罐、球阀控制装置、导管、抽气泵;所述吸气泵与抽气泵之间连接有导管,导管靠近抽气泵处设有开口;正对着开口处设有聚焦透镜,激光器发射的激光能够通过聚焦透镜照射到导管的开口处;信号探头设于导管的开口处附近用于收集辐射光;信号探头通过光纤与光谱仪连接;光谱仪与计算机连接;吸气泵的下方设有样品临时存储罐,临时存储罐和导管间装有球阀控制装置,通过球阀的开闭与临时存储罐共同控制气溶胶样本的浓度。本发明提高了大气样品浓度,提高了检测限和采样率,降低了对信号采集的干扰,且检测成本低。

    一种非接触光学元件表面面形测量装置及方法

    公开(公告)号:CN109974583B

    公开(公告)日:2024-03-26

    申请号:CN201910287491.5

    申请日:2019-04-11

    Abstract: 一种非接触光学元件表面面形测量装置及方法,包括上位机、电子控制模块、探头支撑结构、光学探头、待测元件、元件夹持装置、Z轴电动平移台、千分表及XY轴电动平移台。光学探头向待测元件表面投影聚焦光点,光点反射回物镜后通过三孔光阑形成三孔亮斑。由于亮斑之间距离与光点高度位置有关,因此实时采集图像计算亮斑之间距离可获得表面厚度。为了增加高度测量范围,使用Z轴电动平移台上下移动待测元件并使用千分表测量元件位置。相比传统的接触式面形测量系统,本发明具有非接触的优点,可避免影响元件表面并同时获得大测量范围及高精度。

    一种非接触光学元件表面面形测量装置及方法

    公开(公告)号:CN109974583A

    公开(公告)日:2019-07-05

    申请号:CN201910287491.5

    申请日:2019-04-11

    Abstract: 一种非接触光学元件表面面形测量装置及方法,包括上位机、电子控制模块、探头支撑结构、光学探头、待测元件、元件夹持装置、Z轴电动平移台、千分表及XY轴电动平移台。光学探头向待测元件表面投影聚焦光点,光点反射回物镜后通过三孔光阑形成三孔亮斑。由于亮斑之间距离与光点高度位置有关,因此实时采集图像计算亮斑之间距离可获得表面厚度。为了增加高度测量范围,使用Z轴电动平移台上下移动待测元件并使用千分表测量元件位置。相比传统的接触式面形测量系统,本发明具有非接触的优点,可避免影响元件表面并同时获得大测量范围及高精度。

    一种用于激光诱导击穿光谱技术的节能自动光路切断装置

    公开(公告)号:CN211824733U

    公开(公告)日:2020-10-30

    申请号:CN202020206391.3

    申请日:2020-02-25

    Abstract: 一种用于激光诱导击穿光谱技术的节能自动光路切断装置,包括镀有反射膜的机械光圈,由电磁铁控制开关,放置在固体激光器光路上,当光圈处于关闭状态时,相当于反射镜,将光反射至上方的光伏电池上,所述光圈和所述光伏电池之间还加有一块发散透镜,本实用新型在使用LIBS进行实验时,无需频繁关闭激光器的同时保证实验者更换靶材的安全;有效利用耗散激光进行能量再利用,节能环保;巧妙的光圈镀膜反射镜设计,实现改变光路的作用;在硅光电池下方附加一块发散透镜,一方面降低能量密度,一方面扩大受光面积,提高使用寿命和发电效率。

    一种非接触光学元件表面面形测量装置

    公开(公告)号:CN209623618U

    公开(公告)日:2019-11-12

    申请号:CN201920482591.9

    申请日:2019-04-11

    Abstract: 一种非接触光学元件表面面形测量装置,包括上位机、电子控制模块、探头支撑结构、光学探头、待测元件、元件夹持装置、Z轴电动平移台、千分表及XY轴电动平移台。光学探头向待测元件表面投影聚焦光点,光点反射回物镜后通过三孔光阑形成三孔亮斑。由于亮斑之间距离与光点高度位置有关,因此实时采集图像计算亮斑之间距离可获得表面厚度。为了增加高度测量范围,使用Z轴电动平移台上下移动待测元件并使用千分表测量元件位置。相比传统的接触式面形测量系统,本实用新型具有非接触的优点,可避免影响元件表面并同时获得大测量范围及高精度。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

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