一种基于微带负群时延电路的介质测试装置及方法

    公开(公告)号:CN114778954A

    公开(公告)日:2022-07-22

    申请号:CN202210329068.9

    申请日:2022-03-30

    Abstract: 本发明公开了一种基于微带负群时延电路的介质测试装置及方法,涉及微波工程技术领域,基于环形谐振器与微带传输线的耦合、以及已知介电常数和损耗角正切值形成标准电路,将待测介质板覆盖于标准电路上,获得待测电路,进一步得到待测电路的谐振频率和群时延值,根据所获待测电路的群时延值、待测电路的谐振频率,选择拟合指数函数,分别计算并获得待测介质板的介电常数和损耗角正切。通过本发明的技术方案,提供了一种可应用在工作于各微波频段的板材上,具有高灵活性、低成本和结构简单等优点的介质电磁参数板测试方法,并且能够获得准确性高的测试参数。

    一种小间隙放电时延测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN104698352B

    公开(公告)日:2017-12-26

    申请号:CN201510086930.8

    申请日:2015-02-17

    Abstract: 本发明公开了一种放电时延的测量装置及相应的测量方法,能够精确地测量小间隙之间的放电击穿时延。本发明提供的小间隙放电时延测量装置,包括放电形成组件、放电测量组件和计算机,所述放电形成组件包括高压电源、继电器、电容、金属棒和接地块,所述金属棒和接地块之间存在间隙;所述放电测量组件包含两条测量通道和示波器,其中第一通道包括电流探头,第二通道包括光纤和光电转换器;所述计算机分别与继电器、高压电源和示波器相连。本发明同步采集击穿放电时产生的光信号和电信号,能够准确测量出小间隙的放电时延,测量精度高,适用范围广。

    一种小间隙放电时延测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN104698352A

    公开(公告)日:2015-06-10

    申请号:CN201510086930.8

    申请日:2015-02-17

    Abstract: 本发明公开了一种放电时延的测量装置及相应的测量方法,能够精确地测量小间隙之间的放电击穿时延。本发明提供的小间隙放电时延测量装置,包括放电形成组件、放电测量组件和计算机,所述放电形成组件包括高压电源、继电器、电容、金属棒和接地块,所述金属棒和接地块之间存在间隙;所述放电测量组件包含两条测量通道和示波器,其中第一通道包括电流探头,第二通道包括光纤和光电转换器;所述计算机分别与继电器、高压电源和示波器相连。本发明同步采集击穿放电时产生的光信号和电信号,能够准确测量出小间隙的放电时延,测量精度高,适用范围广。

    一种抗干扰自调整微控制器系统及其控制方法

    公开(公告)号:CN103454949A

    公开(公告)日:2013-12-18

    申请号:CN201310414445.X

    申请日:2013-09-12

    Abstract: 本发明公开了一种抗干扰自调整微控制器系统及其控制方法,通过设置在微控制器内部的A/D转换器,进行实时的电磁干扰检测,并能降低输入微控制器的信号干扰。本发明提供的抗干扰自调整微控制器系统,包括微控制器、电源、传感器和抗干扰电路,电源为微控制器供电,传感器通过抗干扰电路与微控制器连接;所述微控制器内设置有中央处理器、寄存器、第一A/D转换器和第二A/D转换器,所述第一A/D转换器和第二A/D转换器和寄存器相连,所述中央处理器从寄存器中提取数据;所述抗干扰电路包括低通滤波器、高通滤波器、峰值检波器、耦合电容和参考电压。

    一种抗干扰自调整微控制器系统及其控制方法

    公开(公告)号:CN103454949B

    公开(公告)日:2015-09-23

    申请号:CN201310414445.X

    申请日:2013-09-12

    Abstract: 本发明公开了一种抗干扰自调整微控制器系统及其控制方法,通过设置在微控制器内部的A/D转换器,进行实时的电磁干扰检测,并能降低输入微控制器的信号干扰。本发明提供的抗干扰自调整微控制器系统,包括微控制器、电源、传感器和抗干扰电路,电源为微控制器供电,传感器通过抗干扰电路与微控制器连接;所述微控制器内设置有中央处理器、寄存器、第一A/D转换器和第二A/D转换器,所述第一A/D转换器和第二A/D转换器和寄存器相连,所述中央处理器从寄存器中提取数据;所述抗干扰电路包括低通滤波器、高通滤波器、峰值检波器、耦合电容和参考电压。

    一种磁场测量装置
    6.
    实用新型

    公开(公告)号:CN204331002U

    公开(公告)日:2015-05-13

    申请号:CN201420804694.X

    申请日:2014-12-18

    Abstract: 本实用新型公开了一种磁场测量装置,包括圆环形磁场探头,所述圆环形磁场探头包括探头主体与探头主体连接的把柄,所述探头主体包括主体内芯和覆盖在主体内芯外的主体屏蔽层,主体内芯和主体屏蔽层弯曲成圆环形,所述把柄包括把柄内芯和覆盖在把柄内芯外的把柄屏蔽层,所述主体内芯一端与把柄内芯连接,主体内芯另一端与屏蔽层具有连接点以形成短路回路,主体屏蔽层上开有一缝隙,所述把柄远离探头主体的一端焊接有BNC接头。本实用新型能够有效查找、排除电磁干扰源,可作为电磁骚扰近场测试工具,结构简单,成本低廉,便于推广和应用。

    一种高性能微带多级低噪声放大器

    公开(公告)号:CN203734624U

    公开(公告)日:2014-07-23

    申请号:CN201420002918.5

    申请日:2014-01-03

    Abstract: 本实用新型提供了一种微带多级低噪声放大器,包括三级依次串接的低噪声放大器、电源、滤波电容和∏型滤波器;所述低噪声放大器各级之间分别连接着两个∏型滤波器;所述电源为两组、分别通过两个滤波电容滤波后为各部件供电;所述低噪声放大器包括FET晶体管、输入匹配电路、输出匹配电路、四分之一波长扇形微带结构、第一分压电路和第二分压电路。本实用新型公用两组电源,整体结构简化、集成度高;各级低噪声放大器之间的∏型滤波器能够有效避免各级之间的传导干扰;栅极和漏极供电处引入四分之一波长扇形微带结构,既能防止高频干扰,又能有效滤除电源噪声,因此放大器整体噪声系数小、增益高、增益平坦度小、输入输出驻波比小。

    一种抗干扰自调整微控制器系统

    公开(公告)号:CN203444276U

    公开(公告)日:2014-02-19

    申请号:CN201320565651.6

    申请日:2013-09-12

    Abstract: 本实用新型公开了一种抗干扰自调整微控制器系统,通过设置在微控制器内部的A/D转换器,进行实时的电磁干扰检测,并能降低输入微控制器的信号干扰。本实用新型提供的抗干扰自调整微控制器系统,包括微控制器、电源、传感器和抗干扰电路,电源为微控制器供电,传感器通过抗干扰电路与微控制器连接;所述微控制器内设置有中央处理器、寄存器、第一A/D转换器和第二A/D转换器,所述第一A/D转换器和第二A/D转换器和寄存器相连,所述中央处理器从寄存器中提取数据;所述抗干扰电路包括低通滤波器、高通滤波器、峰值检波器、耦合电容和参考电压。

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