公开(公告)号：CN106450739A

公开(公告)日：2017-02-22

申请号：CN201611088705.9

申请日：2016-11-30

Applicant: 华域汽车系统股份有限公司 ,  复旦大学

Inventor： 郭剑鹰 ,  肖鹏程 ,  张枝高 ,  石磊 ,  房旭龙 ,  朱佳南 ,  李振华 ,  李文宏 ,  陆振海 ,  韦园园

IPC: H01Q1/38 ,  H01Q13/08

CPC classification number: H01Q1/38 ,  H01Q13/08

Abstract: 本发明提供一种平面微带贴片阵列天线，包括一列沿直线排列的辐射贴片组成的辐射贴片阵列，其中，该辐射贴片阵列的两侧设有相互对称的馈电网络；各辐射贴片两侧辐射边的中心位置开设有相互对称的馈电切口，且各馈电切口的中心馈电点分别与同侧的馈电网络连接。本发明可以解决现有平面微带贴片阵列天线的天线辐射图形不对称以及与射频前端电路差分连接时需要双端口转单端口的问题。

公开(公告)号：CN106125052B

公开(公告)日：2021-07-23

申请号：CN201610459160.1

申请日：2016-06-23

Applicant: 复旦大学 ,  华域汽车系统股份有限公司

Inventor： 肖鹏程 ,  郭剑鹰 ,  张枝高 ,  李文宏 ,  陆振海 ,  韦园园 ,  石磊 ,  房旭龙 ,  朱佳南 ,  李振华

IPC: G01S7/02

Abstract: 本发明属于雷达调制技术领域，具体涉及一种线性调频连续波雷达泄露的消除方法和系统。本发明通过IF信号提取一路调制泄露信号，基于参考调制信号拟合出一路调制泄露信号，根据两路调制泄露信号的相关性运算与拟合误差运算，对拟合参数进行自适应调整，实现在全数字域实现调制信号泄露的对消；根据相关性和拟合误差的值，自适应调整拟合信号幅度系数、相位等拟合参数，直到获得最大的相关值和最小的拟合误差。此时获得的拟合调制信号近似为IF信号中包含的调制泄露信号，由IF信号减去拟合调制泄露信号，获得调制泄露的消除后的目标回波信号。本发明在全数字域实现IF调制泄露信号的对消，简化了雷达射频前段的设计，使整个雷达系统结构简单灵活。

公开(公告)号：CN106125052A

公开(公告)日：2016-11-16

申请号：CN201610459160.1

申请日：2016-06-23

Applicant: 复旦大学 ,  华域汽车系统股份有限公司

Inventor： 肖鹏程 ,  郭剑鹰 ,  张枝高 ,  李文宏 ,  陆振海 ,  韦园园 ,  石磊 ,  房旭龙 ,  朱佳南 ,  李振华

IPC: G01S7/02

CPC classification number: G01S7/023

Abstract: 本发明属于雷达调制技术领域，具体涉及一种线性调频连续波雷达泄露的消除方法和系统。本发明通过IF信号提取一路调制泄露信号，基于参考调制信号拟合出一路调制泄露信号，根据两路调制泄露信号的相关性运算与拟合误差运算，对拟合参数进行自适应调整，实现在全数字域实现调制信号泄露的对消；根据相关性和拟合误差的值，自适应调整拟合信号幅度系数、相位等拟合参数，直到获得最大的相关值和最小的拟合误差。此时获得的拟合调制信号近似为IF信号中包含的调制泄露信号，由IF信号减去拟合调制泄露信号，获得调制泄露的消除后的目标回波信号。本发明在全数字域实现IF调制泄露信号的对消，简化了雷达射频前段的设计，使整个雷达系统结构简单灵活。

公开(公告)号：CN103675652A

公开(公告)日：2014-03-26

申请号：CN201210359789.0

申请日：2012-09-21

Applicant: 复旦大学

Inventor： 肖鹏程 ,  陆振海 ,  韦园园

IPC: G01R31/3167

Abstract: 本发明属集成电路测试领域，涉及一种ADC集成芯片采样时钟与测试数据采集时钟为非同原时钟的测试及数据采集方法，本方法对被测ADC芯片的输出数据信号采集同时对被测ADC芯片采样时钟信号采集，将采集速度提高到采样时钟的N倍，根据采集的时钟信号中0到1和1到0的变化位置确定采样时钟信号上升和下降沿的位置，确定每个采样时钟周期内对应的被测ADC芯片测试输出数据，能避免因采样时钟和ADC输出数据采集时钟的不同源导致的相位偏差累积产生的数据采集误差。本发明利用数据处理的优势和灵活性，解决了被测ADC芯片采样时钟与其输出数据采集需要同源的限制，为不同环境或条件下ADC芯片测试提供了更为灵活的解决方法。

公开(公告)号：CN103675652B

公开(公告)日：2016-04-20

申请号：CN201210359789.0

申请日：2012-09-21

Applicant: 复旦大学

Inventor： 肖鹏程 ,  陆振海 ,  韦园园

IPC: G01R31/3167

Abstract: 本发明属集成电路测试领域，涉及一种ADC集成芯片采样时钟与测试数据采集时钟为非同原时钟的测试及数据采集方法，本方法对被测ADC芯片的输出数据信号采集同时对被测ADC芯片采样时钟信号采集，将采集速度提高到采样时钟的N倍，根据采集的时钟信号中0到1和1到0的变化位置确定采样时钟信号上升和下降沿的位置，确定每个采样时钟周期内对应的被测ADC芯片测试输出数据，能避免因采样时钟和ADC输出数据采集时钟的不同源导致的相位偏差累积产生的数据采集误差。本发明利用数据处理的优势和灵活性，解决了被测ADC芯片采样时钟与其输出数据采集需要同源的限制，为不同环境或条件下ADC芯片测试提供了更为灵活的解决方法。

公开(公告)号：CN103684453A

公开(公告)日：2014-03-26

申请号：CN201210320355.X

申请日：2012-08-31

Applicant: 复旦大学

Inventor： 肖鹏程 ,  陆振海 ,  韦园园

IPC: H03M1/10

Abstract: 本发明属半导体测试领域，涉及一种模数变换器集成芯片量产测试方法；所述测试方法分别采用高性能晶振为被测高速高分辨率模数变换器芯片提供低抖动的采用时钟和低噪底的正弦波测试输入信号，其中正弦波测试输入信号通过对晶振输出信号进行带通滤波得到，并通过自动测试设备可编程电源模块为晶振提供工作电源，编程控制晶振的工作电源电压实现晶振输出采样时钟信号、正弦波测试输入信号的幅度控制；由自动测试设备的一路数字通道控制晶振的Enable/Disenable引脚，实现对晶振输出信号的开关控制。本发明具有成本低、体积小、易于控制等优点，也可用于纯数字自动测试设备测试机实现低成本的模数变换器芯片验证和量产测试领域。