公开(公告)号：CN105891163B

公开(公告)日：2018-10-09

申请号：CN201610203140.8

申请日：2016-03-31

Applicant: 华南理工大学

Inventor： 邱建荣 ,  李杨 ,  许琦 ,  聂建敏

IPC: G01N21/63 ,  G01J1/16

Abstract: 本发明公开了一种0.3到2微米范围内长余辉发光强度的测试装置，包括积分球、第一透镜、光栅、滤波片、聚焦透镜、功率计探头、光功率计；长余辉材料测试样品置于积分球内；所述功率计探头在0.3到2微米范围内的吸收率相同；激发光从积分球的入射口入射，焦点位于长余辉材料测试样品上；关闭激发光电源后，长余辉材料测试样品产生的发射光依次经第一透镜变为平行光，再经光栅选光、滤波片滤波、聚焦透镜聚焦后由功率计探头接收，测试结果在光功率计上显示。本发明还公开了基于上述测试装置的测试方法。本发明通过测量光功率的方式来读取相应数据，从而可以比较可见到红外区的长余辉发光强度。

公开(公告)号：CN105891163A

公开(公告)日：2016-08-24

申请号：CN201610203140.8

申请日：2016-03-31

Applicant: 华南理工大学

Inventor： 邱建荣 ,  李杨 ,  许琦 ,  聂建敏

IPC: G01N21/63 ,  G01J1/16

CPC classification number: G01N21/63 ,  G01J1/16 ,  G01J2001/1668

Abstract: 本发明公开了一种0.3到2微米范围内长余辉发光强度的测试装置，包括积分球、第一透镜、光栅、滤波片、聚焦透镜、功率计探头、光功率计；长余辉材料测试样品置于积分球内；所述功率计探头在0.3到2微米范围内的吸收率相同；激发光从积分球的入射口入射，焦点位于长余辉材料测试样品上；关闭激发光电源后，长余辉材料测试样品产生的发射光依次经第一透镜变为平行光，再经光栅选光、滤波片滤波、聚焦透镜聚焦后由功率计探头接收，测试结果在光功率计上显示。本发明还公开了基于上述测试装置的测试方法。本发明通过测量光功率的方式来读取相应数据，从而可以比较可见到红外区的长余辉发光强度。