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公开(公告)号：CN115693157A
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN202211267181.5
申请日：2022-10-17
Applicant: 华南理工大学
Abstract: 本发明公开了一种基于AI的相控阵天线校准方法、系统、设备及存储介质，方法包括：收集每个辐射单元在不同相位时对应的辐射功率的原始数据；对所述的原始数据进行处理，得到用于训练模型的数据集；构造基于AI的机器学习模型；利用数据集对所构造的机器学习模型进行训练，得到训练好的模型；对给定的相控阵天线进行测量，获得用于输入训练好的模型的数据；将测量数据输入训练好的模型，输出辐射单元的预测馈电相位；计算预测馈电相位与所设置相位的差值，并求误差的平均值，将该平均值视为应当校准至的初始相位，至此相控阵天线校准完成。本发明运用基于AI的机器学习模型，减少制造误差与噪声对波束赋形的影响，实现精度较高的相控阵天线校准。
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公开(公告)号：CN114944998A
公开(公告)日：2022-08-26
申请号：CN202210246390.5
申请日：2022-03-14
Applicant: 华南理工大学
Abstract: 本发明公开的一种基于模拟器的物联网系统测试方法及装置，方法包括下述步骤：根据用户需要将待模拟的物联网设备信息存入设备数据库；利用JMeter的大规模并发能力生成相应数量的能够模拟真实设备与物联网系统通信的模拟器，同时在生成时读取设备数据库的信息作为参数使得生成的模拟器各不相同且与用户需求一一对应；通过分布式压测方式将模拟器生成任务分配给多台压测机。本发明基于大规模模拟器仿真大量真实物联网设备，实现物联网系统的大规模并发数据采集和处理的性能测试，解决了传统性能测试中步骤繁杂的问题，能快速找到物联网系统的性能瓶颈，且降低了在测试时需要使用大量真实设备而产生的成本。
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公开(公告)号：CN114944998B
公开(公告)日：2023-06-20
申请号：CN202210246390.5
申请日：2022-03-14
Applicant: 华南理工大学
Abstract: 本发明公开的一种基于模拟器的物联网系统测试方法及装置，方法包括下述步骤：根据用户需要将待模拟的物联网设备信息存入设备数据库；利用JMeter的大规模并发能力生成相应数量的能够模拟真实设备与物联网系统通信的模拟器，同时在生成时读取设备数据库的信息作为参数使得生成的模拟器各不相同且与用户需求一一对应；通过分布式压测方式将模拟器生成任务分配给多台压测机。本发明基于大规模模拟器仿真大量真实物联网设备，实现物联网系统的大规模并发数据采集和处理的性能测试，解决了传统性能测试中步骤繁杂的问题，能快速找到物联网系统的性能瓶颈，且降低了在测试时需要使用大量真实设备而产生的成本。
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