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公开(公告)号：CN103426188A
公开(公告)日：2013-12-04
申请号：CN201310345141.2
申请日：2013-08-08
Applicant: 华南理工大学
Abstract: 本发明公开了一种基于局部模式编码策略和全局分形分析的纹理描述方法，包括以下步骤：S1、首先对图像进行一些简单的前处理，如转换成灰度图像，进入步骤S2；S2、对输入图像应用多尺度的局部模式编码技术，得到在不同尺度参数下的LBP编码图，进入步骤S3；S3、对不同尺度参数下的LBP编码图分别进行多分形谱分析，得到各自的多分形谱特征，进入步骤S4；S4、将对应不同尺度下的LBP编码图得到的特征拼接起来得到最后的纹理特征描述子；本发明具有区分能力强、紧凑性、鲁棒性、计算效益高等优点。
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