一种X射线衍射薄膜样品台

    公开(公告)号:CN217954306U

    公开(公告)日:2022-12-02

    申请号:CN202221980464.X

    申请日:2022-07-29

    Abstract: 本实用新型公开了一种X射线衍射薄膜样品台,包括样品基准支架、样品上支架、样品下支架和固定机构;样品基准支架的上表面与样品上支架的下表面固定连接,下表面与样品下支架固定连接;样品基准支架上设有基准通孔;样品上支架上设有上支架通孔,上支架通孔的尺寸小于基准通孔;样品下支架底部安装有固定机构,固定机构用于将样品压紧在基准通孔内。本实用新型的目的在于克服现有技术的缺陷和不足,提供了一种X射线衍射薄膜样品台,提高薄膜样品的测试精度。

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