公开(公告)号：CN102539970A

公开(公告)日：2012-07-04

申请号：CN201210000712.4

申请日：2012-01-04

Applicant: 华北电网有限公司计量中心

Inventor： 袁瑞铭 ,  李顺昕 ,  宋伟 ,  王思彤 ,  田海亭 ,  张威 ,  钟侃 ,  秦红磊

IPC: G01R31/00 ,  G06K17/00

Abstract: 本发明提供一种RFID设备测试方法及系统，其中，该系统包括：信号生成装置，用于根据预定规则生成测试信号；数模转换装置，用于将测试信号转换为中频模拟信号；信号收发装置，用于将中频模拟信号发送给射频标签、以及接收来自射频标签的响应信号；模数转换装置，用于将响应信号转换为中频数字信号；性能检测装置，用于根据中频数字信号检测射频标签的性能。通过本发明，可以提高测试效率。

公开(公告)号：CN202513936U

公开(公告)日：2012-10-31

申请号：CN201220002041.0

申请日：2012-01-04

Applicant: 华北电网有限公司计量中心

Inventor： 李顺昕 ,  袁瑞铭 ,  钟侃 ,  张威 ,  田海亭 ,  秦红磊

IPC: H04B17/00 ,  H04B5/02

Abstract: 本实用新型提供一种射频标签的测试装置，该装置包括：信号处理单元、天线、定向耦合器以及被测射频标签，定向耦合器用于隔离信号，天线用于接收和发送信号，其中，信号处理单元包括：中频信号处理模块、上变频模块和下变频模块，中频信号处理模块根据预定规则生成数字基带信号，并将数字基带信号转换为中频模拟信号，上变频模块将中频模拟信号转换为预定射频信号，射频标签根据接收的预定射频信号生成反馈射频信号，下变频模块将接收的反馈射频信号转换为中频模拟信号，中频信号处理模块将中频模拟信号转换为中频数字信号，并根据中频数字信号检测被测射频标签性能。通过本实用新型，可以提高射频标签测试的有效性和稳定性。