公开(公告)号：CN111859839B

公开(公告)日：2022-09-13

申请号：CN201910292679.9

申请日：2019-04-12

Applicant: 华北电力大学

Inventor： 程养春 ,  郑夏晖

IPC: G06F30/39 ,  G06F119/04

Abstract: 本发明公开了一种压接式绝缘栅双极型晶体管高温反偏老化时间折算方法，通过计算压接式IGBT器件终端区钝化层拉应力造成的材料微元中的机械能，进而得到为获得IGBT器件同样老化程度，在不同温度、机械压力下必须持续的老化时间之间的比例系数，从而实现了不同老化时间之间的折算，进而可实现试验条件下器件的加速老化寿命与实际工作条件下使用寿命之间的折算。

公开(公告)号：CN111856229B

公开(公告)日：2023-08-15

申请号：CN201910292678.4

申请日：2019-04-12

Applicant: 华北电力大学

Inventor： 程养春 ,  问耀文 ,  郑夏晖

IPC: G01R31/26

Abstract: 本发明公开了一种压接式绝缘栅双极型晶体管高温反偏试验方法，通过加大压接式IGBT器件的夹持力，将原先需要1000h的压接式IGBT器件高温反偏试验时间缩短到了197.64h，极大缩短了试验时间。将IGBT器件放置在恒温箱中，温度恒定在150℃；同时向集电极和发射极之间施加电压VCE(取最大电压VCE‑max的80％)；栅极电压VGE保持为零；同时施加机械压力，使机械压强Ptest保持在2Gpa。持续197.64h后，降温至室温，撤去电压和外加的机械压力，再按照国际标准IEC60747‑9(2007)中规定的晶体管参数检测方法和耐受试验失效标准，诊断该器件是否失效。

公开(公告)号：CN111859839A

公开(公告)日：2020-10-30

申请号：CN201910292679.9

申请日：2019-04-12

Applicant: 华北电力大学

Inventor： 程养春 ,  郑夏晖

IPC: G06F30/39 ,  G06F119/04

Abstract: 本发明公开了一种压接式绝缘栅双极型晶体管高温反偏老化时间折算方法，通过计算压接式IGBT器件终端区钝化层拉应力造成的材料微元中的机械能，进而得到为获得IGBT器件同样老化程度，在不同温度、机械压力下必须持续的老化时间之间的比例系数，从而实现了不同老化时间之间的折算，进而可实现试验条件下器件的加速老化寿命与实际工作条件下使用寿命之间的折算。

公开(公告)号：CN111856229A

公开(公告)日：2020-10-30

申请号：CN201910292678.4

申请日：2019-04-12

Applicant: 华北电力大学

Inventor： 程养春 ,  郑夏晖

IPC: G01R31/26

Abstract: 本发明公开了一种包含机械应力加速的压接式绝缘栅双极型晶体管高温反偏试验方法，通过加大压接式IGBT器件的夹持力，将原先需要1000h的压接式IGBT器件高温反偏试验时间缩短到了197.64h，极大缩短了试验时间。将IGBT器件放置在恒温箱中，温度恒定在150℃；同时向集电极和发射极之间施加电压VCE(取最大电压VCE-max的80％)；栅极电压VGE保持为零；同时施加机械压力，使机械压强Ptest保持在2Gpa。持续197.64h后，降温至室温，撤去电压和外加的机械压力，再按照国际标准IEC60747-9(2007)中规定的晶体管参数检测方法和耐受试验失效标准，诊断该器件是否失效。