公开(公告)号：CN110672955B

公开(公告)日：2020-07-10

申请号：CN201910971588.8

申请日：2019-10-14

Applicant: 华北电力大学 ,  合肥工业大学

Inventor： 袁之康 ,  屠幼萍 ,  姜艺楠 ,  丁立健 ,  申瑞 ,  王璁 ,  王景春

IPC: G01R31/00 ,  G01R31/12 ,  G01R27/26 ,  G01J5/00

Abstract: 本发明公开了一种复合绝缘子温升预测方法，基于复合绝缘子饱和吸湿介损的时间‑电晕强度等效模型，得到复合绝缘子饱和吸湿介损tanδ、电晕强度E和电晕强度为E时的老化时间tE的关系，并线性拟合得到复合绝缘子温升Ti与复合绝缘子饱和吸湿介损tanδ的关系，从而可以得到复合绝缘子温升Ti与电晕强度E以及电晕强度为E时的老化时间tE的关系，在已知复合绝缘子表面承受的电晕强度E和电晕强度为E时的老化时间tE，tE即为复合绝缘子的运行时间，即得到复合绝缘子温升Ti本发明的预测方法，能够根据模拟结果对复合绝缘子的温升现象进行预测，有助于对复合绝缘子的事故或意外事件进行预测，对指导外绝缘设备的运行和维护具有重要意义。

公开(公告)号：CN110672955A

公开(公告)日：2020-01-10

申请号：CN201910971588.8

申请日：2019-10-14

Applicant: 华北电力大学 ,  合肥工业大学

Inventor： 袁之康 ,  屠幼萍 ,  姜艺楠 ,  丁立健 ,  申瑞 ,  王璁 ,  王景春

IPC: G01R31/00 ,  G01R31/12 ,  G01R27/26 ,  G01J5/00

Abstract: 本发明公开了一种复合绝缘子温升预测方法，基于复合绝缘子饱和吸湿介损的时间-电晕强度等效模型，得到复合绝缘子饱和吸湿介损tanδ、电晕强度E和电晕强度为E时的老化时间tE的关系，并线性拟合得到复合绝缘子温升Ti与复合绝缘子饱和吸湿介损tanδ的关系，从而可以得到复合绝缘子温升Ti与电晕强度E以及电晕强度为E时的老化时间tE的关系，在已知复合绝缘子表面承受的电晕强度E和电晕强度为E时的老化时间tE，tE即为复合绝缘子的运行时间，即得到复合绝缘子温升Ti本发明的预测方法，能够根据模拟结果对复合绝缘子的温升现象进行预测，有助于对复合绝缘子的事故或意外事件进行预测，对指导外绝缘设备的运行和维护具有重要意义。

公开(公告)号：CN105699802B

公开(公告)日：2018-04-10

申请号：CN201510958923.2

申请日：2015-12-18

Applicant: 华北电力大学

Inventor： 屠幼萍 ,  王璁 ,  王梦丹 ,  申瑞 ,  梁栋 ,  姜艺楠 ,  袁之康 ,  王景春

IPC: G01R31/00

Abstract: 本发明涉及一种基于热刺激电流特性的复合绝缘子人工老化试验评估方法。首先确认复合绝缘子的TSC曲线的峰值温度在300～350K；再计算老化时间与陷阱电荷量的相关性系数r，并取最大陷阱电荷增长量ΔQmax＝30nC作为区分人工老化试验有效性的分界值；然后比较分析，若r

公开(公告)号：CN105699802A

公开(公告)日：2016-06-22

申请号：CN201510958923.2

申请日：2015-12-18

Applicant: 华北电力大学

Inventor： 屠幼萍 ,  王璁 ,  王梦丹 ,  申瑞 ,  梁栋 ,  姜艺楠 ,  袁之康 ,  王景春

IPC: G01R31/00

CPC classification number: G01R31/003

Abstract: 本发明涉及一种基于热刺激电流特性的复合绝缘子人工老化试验评估方法。首先确认复合绝缘子的TSC曲线的峰值温度在300～350K；再计算老化时间与陷阱电荷量的相关性系数r，并取最大陷阱电荷增长量ΔQmax＝30nC作为区分人工老化试验有效性的分界值；然后比较分析，若r