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公开(公告)号：CN119437101A
公开(公告)日：2025-02-14
申请号：CN202510017326.3
申请日：2025-01-06
Applicant: 华北水利水电大学
IPC: G01B11/30
Abstract: 本发明提供了一种基于夏克哈特曼微透镜阵列的屏幕平整度测量装置及方法，涉及光学非接触测量技术领域，所述方法包括：获取所述监视器上的每一光斑，以得到光斑矩阵A；获取A中每一光斑的直径，以得到A对应的光斑直径列表D；根据D，确定D对应的光斑直径波动率η；若η＜η’且（1/（n×m））×∑ni=1∑mj=1Ai，j＜D’，则确定待测量屏幕的平整度符合预设的平整度条件，从而实现对待测量屏幕平整度的测量；本发明中的方法，只需将微透镜阵列放置在屏幕的上方，无需高精度的移动设备，无需对拼接靶面进行扫描，检测方式更加简单、高效。
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