一种基于几何基元的零件位姿获取方法

    公开(公告)号:CN109448034A

    公开(公告)日:2019-03-08

    申请号:CN201811242566.X

    申请日:2018-10-24

    Applicant: 华侨大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于几何基元的零件位姿获取方法,属于视觉定位领域;零件位姿信息获取通常是通过点云配准方法来获取的,现有的特征描述子配准方法存在特征点提取时间长、粗配准后需要通过ICP进行精配准才能达到精度要求的问题,而本发明提出利用几何基元获取零件位姿的方法。本发明方法通过提取零件点云中的几何基元特征(平面,圆柱面),并根据基元间的位置关系构建局部坐标系以及局部坐标特征,直接通过局部坐标特征匹配计算点云与模板的局部坐标系转换关系,从而获取零件点云位姿;本发明无需进行精配准即可获得准确的位姿精度,计算效率高。

    一种基于几何基元的零件位姿获取方法

    公开(公告)号:CN109448034B

    公开(公告)日:2021-10-01

    申请号:CN201811242566.X

    申请日:2018-10-24

    Applicant: 华侨大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于几何基元的零件位姿获取方法,属于视觉定位领域;零件位姿信息获取通常是通过点云配准方法来获取的,现有的特征描述子配准方法存在特征点提取时间长、粗配准后需要通过ICP进行精配准才能达到精度要求的问题,而本发明提出利用几何基元获取零件位姿的方法。本发明方法通过提取零件点云中的几何基元特征(平面,圆柱面),并根据基元间的位置关系构建局部坐标系以及局部坐标特征,直接通过局部坐标特征匹配计算点云与模板的局部坐标系转换关系,从而获取零件点云位姿;本发明无需进行精配准即可获得准确的位姿精度,计算效率高。

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