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公开(公告)号:CN103777067B
公开(公告)日:2016-12-21
申请号:CN201210400838.0
申请日:2012-10-19
Applicant: 华为技术有限公司
Abstract: 本发明公开了一种芯片功耗测量电路、芯片及芯片功耗测量方法,属于电学领域。所述电路包括:第一电压获取模块,用于获取电源作用于电流采集电阻两端的电压;第二电压获取模块,用于获取所述电源作用于所述芯片的总电压;其中,所述第一电压获取模块获取到的电压和所述第二电压获取模块获取到的电压以及已知的所述电流采集电阻的阻值用于计算所述芯片在所述电源作用下的功耗。本发明通过获取预设的电流采集电阻两端的电压以及电源作用于芯片的总电压,结合电流采集电阻的阻值计算芯片在该电源作用下的功耗,达到扩展应用范围,减小测量误差且能够同时测量多个电源作用于芯片时各自的功耗的目的。
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公开(公告)号:CN103777067A
公开(公告)日:2014-05-07
申请号:CN201210400838.0
申请日:2012-10-19
Applicant: 华为技术有限公司
Abstract: 本发明公开了一种芯片功耗测量电路、芯片及芯片功耗测量方法,属于电学领域。所述电路包括:第一电压获取模块,用于获取电源作用于电流采集电阻两端的电压;第二电压获取模块,用于获取所述电源作用于所述芯片的总电压;其中,所述第一电压获取模块获取到的电压和所述第二电压获取模块获取到的电压以及已知的所述电流采集电阻的阻值用于计算所述芯片在所述电源作用下的功耗。本发明通过获取预设的电流采集电阻两端的电压以及电源作用于芯片的总电压,结合电流采集电阻的阻值计算芯片在该电源作用下的功耗,达到扩展应用范围,减小测量误差且能够同时测量多个电源作用于芯片时各自的功耗的目的。
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公开(公告)号:CN109964510B
公开(公告)日:2020-10-16
申请号:CN201780069737.0
申请日:2017-05-25
Applicant: 华为技术有限公司
IPC: H04W48/18
Abstract: 本申请公开了一种选择PLMN的方法及IVS。所述方法可包括:在IVS初始化或者触发PLMN重选时,IVS从至少一个预置PLMN中选择目标PLMN,其中,所述至少一个预置PLMN中部署有PSAP;测量所述目标PLMN的指标;在所述目标PLMN的指标达到了预设阈值的情况下,接入所述目标PLMN,以使得所述IVS向所述目标PLMN中的PSAP发送数据。上述方案能够保证IVS接入的PLMN中部署有PSAP,能够保证MSD在传输过程中使用同一种编码方式,避免了MSD传输过程中的编码转换,从而保证MSD传输的可靠性。
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公开(公告)号:CN109964510A
公开(公告)日:2019-07-02
申请号:CN201780069737.0
申请日:2017-05-25
Applicant: 华为技术有限公司
IPC: H04W48/18
Abstract: 本申请公开了一种选择PLMN的方法及IVS。所述方法可包括:在IVS初始化或者触发PLMN重选时,IVS从至少一个预置PLMN中选择目标PLMN,其中,所述至少一个预置PLMN中部署有PSAP;测量所述目标PLMN的指标;在所述目标PLMN的指标达到了预设阈值的情况下,接入所述目标PLMN,以使得所述IVS向所述目标PLMN中的PSAP发送数据。上述方案能够保证IVS接入的PLMN中部署有PSAP,能够保证MSD在传输过程中使用同一种编码方式,避免了MSD传输过程中的编码转换,从而保证MSD传输的可靠性。
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