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公开(公告)号：CN116758969A
公开(公告)日：2023-09-15
申请号：CN202310709960.4
申请日：2023-06-14
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明提供了一种存储器疲劳特性测量方法、系统及电子设备，包括：根据疲劳特性测量需求向存储器循环提供相应的输入信号；根据预设的测量模式，确定各个采样点对应的循环次数，并在对应循环次数下测量存储器的输出信号；判断各采样点存储器的输出信号是否在预设范围内，若在预设范围内，则将原输入信号继续循环输入；若不在，则调整输入信号的参数，在下一次循环时判断输出信号是否在预设范围内，若在预设范围内，则按照调整参数的输入信号继续进行循环，若不在，则继续调整输入信号参数，在重复预设次数的输入信号参数调整下，若输出信号仍不在预设范围内，则中止疲劳特性测量。本发明能够实现多样化测量，且避免对存储器不必要的磨损。
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