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公开(公告)号：CN105068127B
公开(公告)日：2017-07-07
申请号：CN201510426471.3
申请日：2015-07-20
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01V3/12
Abstract: 本发明公开了一种基于极化毫米波辐射的获取目标表面方位信息的方法；通过在无极化辐射环境中分别以三种不同的天线极化旋转角度对包含目标的场景进行成像，得到目标的亮温图像；再计算每个表面的平均亮温值；然后将每个表面的三种不同天线极化旋转角度及其相应的平均亮温值代入曲线方程中，求解出每个表面的表面方位信息角；最后根据表面方位信息角再次对目标进行成像，得到新的亮温图像，进而结合表面方位信息角的终边方向上的亮温变化趋势以及判断原则，得到每个表面的法向量的方位角。本发明能非接触、被动、高精度地获取目标表面的方位角信息，为目标的检测与识别提供更多的有用信息。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106226766A
公开(公告)日：2016-12-14
申请号：CN201610534007.0
申请日：2016-07-08
Applicant: 华中科技大学
CPC classification number: G01S13/89 , G06K9/6267
Abstract: 本发明公开了一种基于被动毫米波极化成像的材料分类方法；首先利用毫米波辐射计成像系统在无极化照射环境中获取给定入射角下场景的水平极化图和垂直极化图；再根据水平极化图和垂直极化图计算得到“线极化比”图像；然后统计分析“线极化比”的分布规律，利用阈值估计公式估计“线极化比”阈值；最后根据分类准则，实现对场景中的金属材料和非金属材料的分类。本发明能非接触、被动地对金属材料和介质材料的进行有效分类，并且不受环境辐射变化的影响，具有很好的鲁棒性，可用于金属目标的遥感与探测、金属危险品的安全检测与预警等领域。
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公开(公告)号：CN105068127A
公开(公告)日：2015-11-18
申请号：CN201510426471.3
申请日：2015-07-20
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01V3/12
Abstract: 本发明公开了一种基于极化毫米波辐射的获取目标表面方位信息的方法；通过在无极化辐射环境中分别以三种不同的天线极化旋转角度对包含目标的场景进行成像，得到目标的亮温图像；再计算每个表面的平均亮温值；然后将每个表面的三种不同天线极化旋转角度及其相应的平均亮温值代入曲线方程中，求解出每个表面的表面方位信息角；最后根据表面方位信息角再次对目标进行成像，得到新的亮温图像，进而结合表面方位信息角的终边方向上的亮温变化趋势以及判断原则，得到每个表面的法向量的方位角。本发明能非接触、被动、高精度地获取目标表面的方位角信息，为目标的检测与识别提供更多的有用信息。
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公开(公告)号：CN105953925A
公开(公告)日：2016-09-21
申请号：CN201610389758.8
申请日：2016-06-03
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01J5/00
CPC classification number: G01J5/00
Abstract: 本发明公开了一种基于快速射线追踪的毫米波辐射亮温获取方法，包括S1获得待测场景中立体目标表面微面元；S2根据待测场景设置的视场范围和扫描角度间隔建立成像平面，根据位于成像平面上的像素点坐标与仿真中接收场景辐射信号天线的位置获得扫描射线依次遍历各像素点，获得多个观测方向上的扫描射线；S3根据微面元和所述扫描射线并采用射线追踪算法获得辐射信号传输路径；S4根据目标毫米波发射率和所述辐射信号传输路径，获得不同观测方向上到达所述天线处的毫米波辐射亮温。本发明能高效、准确地获取目标场景毫米波辐射亮温分布，为复杂场景毫米波辐射特性研究提供更多的有用信息。
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公开(公告)号：CN108680262A
公开(公告)日：2018-10-19
申请号：CN201810472195.8
申请日：2018-05-16
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01J5/52
CPC classification number: G01J5/522
Abstract: 本发明公开了一种基于辐射计输出电压的目标辐射率的测量方法，属于无源微波遥感与探测技术领域，包括：利用辐射计分别对同一位置的金属目标、待测目标、黑体目标进行测量，得到第一电压、第二电压和第三电压；利用第一电压、第二电压和第三电压进行差值分析，得到待测目标的辐射率。本发明能够非接触、被动、且不需要复杂的定标过程，同时还可消除天线旁瓣以及主波束不完全被目标区域覆盖时所引起的误差，从而获取更为准确的、便易的辐射率测量方法，为目标的检测和识别提供信息。
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公开(公告)号：CN106226766B
公开(公告)日：2018-07-24
申请号：CN201610534007.0
申请日：2016-07-08
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于被动毫米波极化成像的材料分类方法；首先利用毫米波辐射计成像系统在无极化照射环境中获取给定入射角下场景的水平极化图和垂直极化图；再根据水平极化图和垂直极化图计算得到“线极化比”图像；然后统计分析“线极化比”的分布规律，利用阈值估计公式估计“线极化比”阈值；最后根据分类准则，实现对场景中的金属材料和非金属材料的分类。本发明能非接触、被动地对金属材料和介质材料的进行有效分类，并且不受环境辐射变化的影响，具有很好的鲁棒性，可用于金属目标的遥感与探测、金属危险品的安全检测与预警等领域。
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