公开(公告)号：CN102680434A

公开(公告)日：2012-09-19

申请号：CN201210151750.X

申请日：2012-05-16

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 李华曜 ,  谢长生 ,  杨其成 ,  张顺平

IPC: G01N21/63 ,  G01R19/00

Abstract: 本发明属于材料性能分析测试技术，可以测试多种材料在气氛中的光电流性能，为评价材料在光激发下的气敏性能以及评价材料的光电催化性能提供依据。本发明方法由光源部分、环境控制组件、测试腔、信号采集部分和控制部分组成。本发明方法测试多种材料在特定环境中、全光谱范围内光电流变化，为材料光电响应最佳响应范围和材料本征以及缺陷能级与含量的确定提供依据。本发明方法具有可控环境多，系统自动化程度高，单次测试样本多的特点。

公开(公告)号：CN102680434B

公开(公告)日：2014-06-18

申请号：CN201210151750.X

申请日：2012-05-16

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 李华曜 ,  谢长生 ,  杨其成 ,  张顺平

IPC: G01N21/63 ,  G01R19/00

Abstract: 本发明属于材料性能分析测试技术，可以测试多种材料在气氛中的光电流性能，为评价材料在光激发下的气敏性能以及评价材料的光电催化性能提供依据。本发明方法由光源部分、环境控制组件、测试腔、信号采集部分和控制部分组成。本发明方法测试多种材料在特定环境中、全光谱范围内光电流变化，为材料光电响应最佳响应范围和材料本征以及缺陷能级与含量的确定提供依据。本发明方法具有可控环境多，系统自动化程度高，单次测试样本多的特点。