公开(公告)号：CN117288351A

公开(公告)日：2023-12-26

申请号：CN202311390692.0

申请日：2023-10-25

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 傅邱云 ,  施竞峰 ,  周东祥

IPC: G01K15/00

Abstract: 本发明公开了一种多通道热敏电阻电压效应测试电路、系统及测试方法，属于电子电路领域，包括：单片机、热敏电阻通道并联结构、标准电阻通道并联结构、峰值电压表、直流稳压电源及IGBT脉冲开关；热敏电阻通道并联结构为多路并联热敏电阻通道，每路热敏电阻通道包括第一控制开关，第一控制开关和待测热敏电阻串联；标准电阻通道并联结构为多路并联的标准电阻通道，每路标准电阻通道包括串联的第二控制开关和标准电阻；直流稳压电源、热敏电阻通道并联结构、标准电阻通道并联结构及IGBT脉冲开关形成串联回路。本发明简化了热敏电阻测试流程，可以有效控制测量误差，提高测量精度与可靠性，多通道测量提升测量效率，减少了测试时间与测试成本。

公开(公告)号：CN221077883U

公开(公告)日：2024-06-04

申请号：CN202322868424.7

申请日：2023-10-25

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 傅邱云 ,  施竞峰 ,  周东祥

IPC: G01K15/00

Abstract: 本实用新型公开了一种多通道热敏电阻电压效应测试电路及系统，属于电子电路领域，包括：单片机、热敏电阻通道并联结构、标准电阻通道并联结构、峰值电压表、直流稳压电源及IGBT脉冲开关；热敏电阻通道并联结构为多路并联热敏电阻通道，每路热敏电阻通道包括第一控制开关，第一控制开关和待测热敏电阻串联；标准电阻通道并联结构为多路并联的标准电阻通道，每路标准电阻通道包括串联的第二控制开关和标准电阻；直流稳压电源、热敏电阻通道并联结构、标准电阻通道并联结构及IGBT脉冲开关形成串联回路。本实用新型简化了热敏电阻测试流程，可以有效控制测量误差，提高测量精度与可靠性，多通道测量提升测量效率，减少了测试时间与测试成本。