公开(公告)号：CN107907040B

公开(公告)日：2019-04-23

申请号：CN201711178752.7

申请日：2017-11-23

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 康宜华 ,  张继楷 ,  王荣彪

IPC: G01B7/02

Abstract: 本发明属于无损检测技术领域，并公开了一种基于交流磁桥回路的位移传感方法与装置，该方法包括以下步骤：1)将测量探头对准待测金属面；2)给每组激励线圈分别加载交流激励，则多组激励线圈在磁芯的横部产生方向相反的交流磁场；3)接收线圈测量磁芯中的磁通量，获取交流电压的峰峰值；4)根据待测金属面的位移值与交流电压的峰峰值成倒数的对应关系获得待测金属面的位移值；该装置包括交流激励源、测量探头、放大器、滤波器、A/D采集卡和计算机，测量探头分别与交流激励源和放大器电连接，放大器还依次连接滤波器、A/D采集卡和计算机；本发明的装置结构简单，抗干扰性好，对待测物表面粗糙度要求低，而且数据处理简单，效率高。

公开(公告)号：CN107907040A

公开(公告)日：2018-04-13

申请号：CN201711178752.7

申请日：2017-11-23

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 康宜华 ,  张继楷 ,  王荣彪

IPC: G01B7/02

CPC classification number: G01B7/02

Abstract: 本发明属于无损检测技术领域，并公开了一种基于交流磁桥回路的位移传感方法与装置，该方法包括以下步骤：1)将测量探头对准待测金属面；2)给每组激励线圈分别加载交流激励，则多组激励线圈在磁芯的横部产生方向相反的交流磁场；3)接收线圈测量磁芯中的磁通量，获取交流电压的峰峰值；4)根据待测金属面的位移值与交流电压的峰峰值成倒数的对应关系获得待测金属面的位移值；该装置包括交流激励源、测量探头、放大器、滤波器、A/D采集卡和计算机，测量探头分别与交流激励源和放大器电连接，放大器还依次连接滤波器、A/D采集卡和计算机；本发明的装置结构简单，抗干扰性好，对待测物表面粗糙度要求低，而且数据处理简单，效率高。