公开(公告)号：CN118196027A

公开(公告)日：2024-06-14

申请号：CN202410290896.5

申请日：2024-03-14

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 沈卫明 ,  姜雨欣 ,  程育奇 ,  张天航

IPC: G06T7/00 ,  G06V10/764 ,  G06V10/82 ,  G06N3/0464 ,  G06N3/08 ,  G06V10/774 ,  G06V10/26 ,  G06V10/74

Abstract: 本发明属于工业图像处理相关技术领域，其公开了一种缺陷检测方法、多模态融合网络及设备，包括以下步骤：基于自注意机制、视觉的相似性图及文本引导的相似图得到注意力矩阵；将注意力矩阵以通道方式叠加成注意力图，并基于注意力图进行融合得到视觉信息及文本信息，进而用损失函数#imgabs0#对分割子模块进行训练，并基于训练后的分割子模块得到像素级缺陷定位结果；其中，训练过程中引入真值掩膜作为参考标签，分割子模块的输入为融合得到的视觉信息及文本信息。本发明通过多模态注意力融合方式来实现文本特征与视觉特征的融合，以有效捕获两种模态的互补信息，避免多模态融合期间出现特征干扰。

公开(公告)号：CN117388254A

公开(公告)日：2024-01-12

申请号：CN202311259180.0

申请日：2023-09-26

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 沈卫明 ,  曹云康 ,  余裕浩 ,  刘照阁 ,  张以恒 ,  张天航 ,  姜雨欣 ,  宋亚楠

IPC: G01N21/88 ,  G01N21/01

Abstract: 本发明属于机器视觉图像检测相关技术领域，其公开了一种工业产品缺陷检测方法及检测系统，其中方法包括：S1，根据待测产品的表面特征，获取用于采集待测产品表面图像的初始角度参数集合；S2，对初始角度参数集合中的任一角度参数进行优化，获取优化角度参数集合；S3，对于优化角度参数集合中的任一角度参数，获取对应的优化光照参数集合；S4，根据优化角度参数集合以及优化光照参数集合，进行待测产品的表面图像采集；S5，通过图像分析，获取待测产品的缺陷检测结果。本发明通过结合角度参数集合和光照参数集合，能够实现对待测产品表面信息的全面且丰富的捕获，进而实现图像的高效分析，能够实现对复杂形状产品的缺陷检测。

公开(公告)号：CN117177421A

公开(公告)日：2023-12-05

申请号：CN202311264756.2

申请日：2023-09-26

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 沈卫明 ,  张天航 ,  曹云康 ,  余裕浩

IPC: H05B47/155 ,  H05B47/165

Abstract: 本发明属于图像采集照明领域，并具体公开了一种用于图像采集的组合光源亮度控制方法及系统，包括：组合光源包括数个光源，通过组合光源对目标物体进行照明，调节各光源亮度，并分别获取各组亮度参数下目标物体图像；对获取图像进行预处理，选取满足质量要求的图像，得到优化图像集；分别计算优化图像集中各图像像素的灰度均值μi；基于优化图像集中各图像亮度参数及灰度均值μi，确定多元线性回归模型中的系数；基于系数确定的多元线性回归模型和预设的灰度均值目标区间，求得各光源亮度的可调区间；根据可调区间控制组合光源进行图像采集时各光源的亮度。本发明可实现对多个照明光源亮度的控制，以提高照明效果，在缺陷检测时获取高质量图像。