公开(公告)号：CN111487201B

公开(公告)日：2021-02-09

申请号：CN202010347224.5

申请日：2020-04-27

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 马冬林 ,  延翊铭

IPC: G01N21/21 ,  G06F17/11 ,  G06F17/16

Abstract: 本发明公开了一种偏振图像信息的表征方法和表征参数的计算方法，属于成像技术领域。包括：获取偏振成像目标的n幅偏振子图像，各幅偏振子图像对应不同偏振角度，n≥3；根据偏振成像目标的所有偏振子图像和偏振余弦表征方程，计算偏振成像目标所有像素点的偏振余弦表征方程的参数矩阵[ILP(x，y)INLP(x，y)θ(x，y)]。针对传统偏振成像时，需要寻找最大偏振强度图像和最小偏振强度图像的问题，本发明通过多幅偏振强度图计算获得的最大偏振强度图和最小偏振强度图，提高了偏振成像的准确度，准确度要远高于肉眼寻找到的。针对偏振成像过程中产生的实验误差问题，本发明通过最小二乘法拟合计算偏振余弦表征参数，也能够有效降低该实验误差对实验结果的影响。

公开(公告)号：CN111487201A

公开(公告)日：2020-08-04

申请号：CN202010347224.5

申请日：2020-04-27

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 马冬林 ,  延翊铭

IPC: G01N21/21 ,  G06F17/11 ,  G06F17/16

Abstract: 本发明公开了一种偏振图像信息的表征方法和表征参数的计算方法，属于成像技术领域。包括：获取偏振成像目标的n幅偏振子图像，各幅偏振子图像对应不同偏振角度，n≥3；根据偏振成像目标的所有偏振子图像和偏振余弦表征方程，计算偏振成像目标所有像素点的偏振余弦表征方程的参数矩阵[ILP(x，y) INLP(x，y) θ(x，y)]。针对传统偏振成像时，需要寻找最大偏振强度图像和最小偏振强度图像的问题，本发明通过多幅偏振强度图计算获得的最大偏振强度图和最小偏振强度图，提高了偏振成像的准确度，准确度要远高于肉眼寻找到的。针对偏振成像过程中产生的实验误差问题，本发明通过最小二乘法拟合计算偏振余弦表征参数，也能够有效降低该实验误差对实验结果的影响。