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公开(公告)号：CN108088880B
公开(公告)日：2019-04-23
申请号：CN201810145620.2
申请日：2018-02-12
申请人： 华中科技大学
摘要： 本发明属于高分子溶液分散性测量的技术领域，具体涉及一种基于叉指电极的高分子溶液分散性测量方法，包括如下步骤：(1)设置单个叉指电极的波长数目、探测深度以及叉指电极阵列的大小；(2)测量以待测高分子上层溶液和底层溶液为介质的电容，以此选择叉指电极电容模型；(3)将叉指电极阵列紧贴在待测容器的内壁；(4)取待测高分子溶液置于待测容器中；(5)将叉指电极阵列由导线引出，与电容测量设备相连，实时获取高分子溶液不同探测深度处等效电容Ceq,ijk；(6)根据获得的叉指电极电容模型和等效电容Ceq,ijk，计算高分子溶液不同采样点处的等效介电常数εeq,ijk和其偏差值S，S值越小表示待测高分子溶液的分散性越好，溶液越稳定。
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公开(公告)号：CN107478690A
公开(公告)日：2017-12-15
申请号：CN201710528346.2
申请日：2017-07-01
申请人： 华中科技大学
IPC分类号： G01N27/22
CPC分类号： G01N27/22 , G01N27/226
摘要： 本发明属于高分子取向测量的技术领域，具体涉及一种基于叉指电极的高分子层内剪切取向测量方法，包括如下步骤：S1将一对叉指电极探头紧贴于待测材料表面；S2设置叉指电极的探测深度并测试待测材料在不同深度位置上两个方向的电容信号大小 和 S3分别构建介电常数计算参数方程组，求解得到待测材料每个厚度层两个方向的介电常数值 和 S4计算得到相对于待测材料坐标系的每个厚度层待测材料的取向大小和取向方向 完成高分子层内的剪切取向测量。本发明的方法无需切片制样，避免了制样过程中人为因素对于对最终的取向测量结果的干扰，提高了测量结果的精确度，节省了测试的时间，降低了测试的成本，尤其适用于高分子层内剪切取向的测量。
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公开(公告)号：CN108088880A
公开(公告)日：2018-05-29
申请号：CN201810145620.2
申请日：2018-02-12
申请人： 华中科技大学
CPC分类号： G01N27/30 , G01N27/22 , G01N27/221
摘要： 本发明属于高分子溶液分散性测量的技术领域，具体涉及一种基于叉指电极的高分子溶液分散性测量方法，包括如下步骤：(1)设置单个叉指电极的波长数目、探测深度以及叉指电极阵列的大小；(2)测量以待测高分子上层溶液和底层溶液为介质的电容，以此选择叉指电极电容模型；(3)将叉指电极阵列紧贴在待测容器的内壁；(4)取待测高分子溶液置于待测容器中；(5)将叉指电极阵列由导线引出，与电容测量设备相连，实时获取高分子溶液不同探测深度处等效电容Ceq,ijk；(6)根据获得的叉指电极电容模型和等效电容Ceq,ijk，计算高分子溶液不同采样点处的等效介电常数εeq,ijk和其偏差值S，S值越小表示待测高分子溶液的分散性越好，溶液越稳定。
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公开(公告)号：CN107478690B
公开(公告)日：2018-04-10
申请号：CN201710528346.2
申请日：2017-07-01
申请人： 华中科技大学
IPC分类号： G01N27/22
摘要： 本发明属于高分子取向测量的技术领域，具体涉及一种基于叉指电极的高分子层内剪切取向测量方法，包括如下步骤：S1将一对叉指电极探头紧贴于待测材料表面；S2设置叉指电极的探测深度并测试待测材料在不同深度位置上两个方向的电容信号大小和S3分别构建介电常数计算参数方程组，求解得到待测材料每个厚度层两个方向的介电常数值和S4计算得到相对于待测材料坐标系的每个厚度层待测材料的取向大小和取向方向完成高分子层内的剪切取向测量。本发明的方法无需切片制样，避免了制样过程中人为因素对于对最终的取向测量结果的干扰，提高了测量结果的精确度，节省了测试的时间，降低了测试的成本，尤其适用于高分子层内剪切取向的测量。
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公开(公告)号：CN106841328B
公开(公告)日：2017-09-26
申请号：CN201710034190.2
申请日：2017-01-17
申请人： 华中科技大学
IPC分类号： G01N27/22
CPC分类号： G01N27/22
摘要： 本发明公开了一种共面电容式聚合物分子取向测量装置及方法，其中该测量装置包括传感器探头阵列(10)、电容测量单元(13)、以及取向计算模块(14)，其中，传感器探头阵列(10)包括多组共面电极；任意一组共面电极均包括至少两个导电电极；电容测量单元(13)用于测量同一共面电极内的任意两个导电电极之间的电容，并得到多组电容数据；取向计算模块(14)则用于根据多组电容数据计算待测量聚合物的分子取向。本发明利用聚合物材料介电性能的各向异性，通过共面电极结构测量聚合物分子取向，建立了取向‑介电‑电容三者的关系，适用于各类聚合物，属于无损检测，具有精度高、响应快、非侵入式等特点。
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公开(公告)号：CN106841328A
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201710034190.2
申请日：2017-01-17
申请人： 华中科技大学
IPC分类号： G01N27/22
CPC分类号： G01N27/22
摘要： 本发明公开了一种共面电容式聚合物分子取向测量装置及方法，其中该测量装置包括传感器探头阵列(10)、电容测量单元(13)、以及取向计算模块(14)，其中，传感器探头阵列(10)包括多组共面电极；任意一组共面电极均包括至少两个导电电极；电容测量单元(13)用于测量同一共面电极内的任意两个导电电极之间的电容，并得到多组电容数据；取向计算模块(14)则用于根据多组电容数据计算待测量聚合物的分子取向。本发明利用聚合物材料介电性能的各向异性，通过共面电极结构测量聚合物分子取向，建立了取向‑介电‑电容三者的关系，适用于各类聚合物，属于无损检测，具有精度高、响应快、非侵入式等特点。
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