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公开(公告)号：CN111121980B
公开(公告)日：2024-09-24
申请号：CN202010027680.1
申请日：2020-01-10
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明属于二维综合孔径辐射计成像技术领域，公开了一种基于延时相关的二维综合孔径辐射计成像方法及系统，利用辐射信号不相关的特点，将各个天线接收的模拟信号延时、相加后输入一个通道，经AD采样、自相关、傅里叶反演处理最终获得亮温图像。本发明将延时相关的思想与传统综合孔径微波辐射计相结合，在算法层面降低了互相关矩阵R和可见度函数V的计算复杂度。传统二维综合孔径成像算法是获得天线的互相关函数值，再将函数值依据基线差分类相加；但是本发明在基于延时相关的二维综合孔径成像算法中仅将延时相加数据的自相关函数与基线差一一对应即可，提升了信号处理效率，以较小的代价解决了传统综合孔径信号处理繁琐的问题。
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公开(公告)号：CN111121980A
公开(公告)日：2020-05-08
申请号：CN202010027680.1
申请日：2020-01-10
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明属于二维综合孔径辐射计成像技术领域，公开了一种基于延时相关的二维综合孔径辐射计成像方法及系统，利用辐射信号不相关的特点，将各个天线接收的模拟信号延时、相加后输入一个通道，经AD采样、自相关、傅里叶反演处理最终获得亮温图像。本发明将延时相关的思想与传统综合孔径微波辐射计相结合，在算法层面降低了互相关矩阵R和可见度函数V的计算复杂度。传统二维综合孔径成像算法是获得天线的互相关函数值，再将函数值依据基线差分类相加；但是本发明在基于延时相关的二维综合孔径成像算法中仅将延时相加数据的自相关函数与基线差一一对应即可，提升了信号处理效率，以较小的代价解决了传统综合孔径信号处理繁琐的问题。
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公开(公告)号：CN211013262U
公开(公告)日：2020-07-14
申请号：CN202020051834.6
申请日：2020-01-10
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本实用新型属于成像设备技术领域，公开了一种基于延时相关的二维综合孔径辐射计成像装置，包括至少一个接受模拟信号的天线阵列；与天线阵列相连接，用于对天线接收的信号进行AD数据采集的采样装置；与采样装置相连接，通过傅里叶反演计算的处理装置。本实用新型针对传统综合孔径辐射计通道过多，系统复杂，成本较高等问题，提出基于延时相关技术的二维综合孔径成像装置，该装置充分利用利用辐射信号不相关的特点，将各个天线接收的模拟信号延时、相加后输入一个通道，经过AD采样、自相关、傅里叶反演等处理最终获得亮温图像。
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