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公开(公告)号：CN114812869A
公开(公告)日：2022-07-29
申请号：CN202210236943.9
申请日：2022-03-11
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01K15/00 , G01R27/14 , G01R1/20 , G05B19/042
Abstract: 本发明公开了一种热敏电阻电压效应测试电路及系统，属于电子电路技术领域。电路包括：脉冲电压源、采样电阻、两个IGBT、单片机及峰值电压表；所述脉冲电压源、待测PTCR陶瓷电阻及采样电阻形成串联回路；所述待测PTCR陶瓷电阻和采样电阻的一端分别与两个IGBT的G极相连，另一端分别与峰值电压表的负极相连；所述峰值电压表的正极分别与两个IGBT的C极相连；所述单片机分别与两个IGBT的E极相连，用于控制两个IGBT的导通和断开。测试系统包括单片机、温控表、电炉、计算机及上述所述的电路。本发明能够提升热敏电阻电压效应的测试效率及精度，且测试系统比较简单，测试成本低。
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