公开(公告)号：CN111007151A

公开(公告)日：2020-04-14

申请号：CN201911389168.5

申请日：2019-12-30

Applicant: 华东理工大学

Inventor： 项延训 ,  轩福贞 ,  涂善东 ,  滕达 ,  朱武军 ,  杨斌

IPC: G01N29/06 ,  G01N29/44

Abstract: 本发明提出一种基于缺陷预定位的超声相控阵快速全聚焦成像检测方法，包括：对目标成像区域进行平面波和全矩阵捕获数据采集；对成像目标成像区域粗离散化处理，对平面波回波信号数据集移相处理，获得平面波成像结果，对其进行像素值分析处理；通过阈值处理对平面波成像结果进行缺陷定位分析，对含缺陷的像素点精细离散化处理，对全矩阵回波信号数据集移相处理，获得含缺陷的像素点的像素值；对平面波成像结果中未选中像素点作插值和放大系数处理，填充至对应网格；得到最终成像结果。本发明的方法将超声相控阵平面波算法与全聚焦算法进行结合，在保持空间分辨率的同时提高了时间分辨率，对构件进行快速的超声相控阵成像检测，并对缺陷有效评价。

公开(公告)号：CN117871681A

公开(公告)日：2024-04-12

申请号：CN202311791902.7

申请日：2023-12-22

Applicant: 华东理工大学

Inventor： 项延训 ,  滕达 ,  轩福贞 ,  朱武军 ,  刘立帅 ,  胡正 ,  宋爱玲

IPC: G01N29/06

Abstract: 本发明涉及一种基于阵元数量调制的非线性超声相控阵成像方法及介质，该方法包括以下步骤：获取对被测金属结构件中的各聚焦点进行三次信号采集的结果，其中第一次采集结果为经过相控阵阵列换能器的所有阵元进行激励后得到的，第二次采集结果和第三次采集结果分别为经过相控阵阵列换能器的奇数序号阵元和偶数序号阵元进行激励后得到的；基于三次信号采集结果，分别计算三次的基频剩余能量；基于三次的基频剩余能量，计算聚焦点对应的基频能量损耗比；将所述基频能量损耗比作为像素值填充至各聚焦点，得到非线性超声相控阵成像结果。与现有技术相比，本发明具有快速有效地检测成像、提高构件缺陷检测特异性和灵敏度等优点。