基于深度学习的绝缘子电晕放电状态评估方法

    公开(公告)号:CN113238131B

    公开(公告)日:2021-09-24

    申请号:CN202110786869.3

    申请日:2021-07-13

    Abstract: 本发明提供一种基于深度学习的绝缘子电晕放电状态评估方法,在预定探测距离位置处,通过紫外成像仪探测得到不同的绝缘子放电强度所对应探测的紫外光子数的关系曲线;以绝缘子放电目标源等效为点光源,利用结合Allard原理,拟合出探测距离、光子数以及放电强度的关系;采用卷积神经网络深度学习模型进行训练,建立基于可见光的电晕放电探测距离分类模型;在进行实际绝缘子电晕放电状态评估时,采用双路紫外成像仪,基于探测距离模型获得实际探测距离,同时获得对应的紫外光子数,再通过换算到标准探测距离下的紫外光子数,对照放电强度与光子数的关系曲线评估绝缘子电晕放电状态。

    灰度图像增强方法、计算机可读介质及计算机系统

    公开(公告)号:CN113222866B

    公开(公告)日:2022-03-25

    申请号:CN202110770482.9

    申请日:2021-07-08

    Abstract: 本发明属于图像处理技术领域,公开了一种灰度图像增强方法、计算机可读介质及计算机系统,利用基于离散模糊的亮度掩模和基于高斯场的目标函数,进行细节显著性模型估计,充分挖掘灰度图像单通道数据中的细节信息,生成出图像中细节显著性映射图;然后利用非均匀伽马校正,实现最终的图像增强。本发明还公开了计算机可读介质及计算机系统。本发明充分挖掘灰度图像单通道数据中的信息,在提升图像暗区域亮度的同时,避免了图像亮区域因过曝而导致的细节丢失。在仅依靠单通道数据的条件下,提高了细节保留能力,改善了图像增强的效果。

    基于深度学习的绝缘子电晕放电状态评估方法

    公开(公告)号:CN113238131A

    公开(公告)日:2021-08-10

    申请号:CN202110786869.3

    申请日:2021-07-13

    Abstract: 本发明提供一种基于深度学习的绝缘子电晕放电状态评估方法,在预定探测距离位置处,通过紫外成像仪探测得到不同的绝缘子放电强度所对应探测的紫外光子数的关系曲线;以绝缘子放电目标源等效为点光源,利用结合Allard原理,拟合出探测距离、光子数以及放电强度的关系;采用卷积神经网络深度学习模型进行训练,建立基于可见光的电晕放电探测距离分类模型;在进行实际绝缘子电晕放电状态评估时,采用双路紫外成像仪,基于探测距离模型获得实际探测距离,同时获得对应的紫外光子数,再通过换算到标准探测距离下的紫外光子数,对照放电强度与光子数的关系曲线评估绝缘子电晕放电状态。

    灰度图像增强方法、计算机可读介质及计算机系统

    公开(公告)号:CN113222866A

    公开(公告)日:2021-08-06

    申请号:CN202110770482.9

    申请日:2021-07-08

    Abstract: 本发明属于图像处理技术领域,公开了一种灰度图像增强方法、计算机可读介质及计算机系统,利用基于离散模糊的亮度掩模和基于高斯场的目标函数,进行细节显著性模型估计,充分挖掘灰度图像单通道数据中的细节信息,生成出图像中细节显著性映射图;然后利用非均匀伽马校正,实现最终的图像增强。本发明还公开了计算机可读介质及计算机系统。本发明充分挖掘灰度图像单通道数据中的信息,在提升图像暗区域亮度的同时,避免了图像亮区域因过曝而导致的细节丢失。在仅依靠单通道数据的条件下,提高了细节保留能力,改善了图像增强的效果。

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