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公开(公告)号：CN102307148B
公开(公告)日：2014-04-02
申请号：CN201110283070.9
申请日：2011-09-22
Applicant: 北京铁路信号有限公司
Abstract: 本发明公开了一种确定应答器报文误码率的方法。在本发明公开的方法中，从应答器报文的最高位开始，对1023个比特位构成的报文段进行译码，在获得正确译码的报文段之后，逐位向低位移动，当不能对报文段进行正确译码时，通过将该不能正确译码的报文段与正确译码的报文段进行比对，确定应答器报文中发生误码的比特位，之后根据应答器报文中比特位的总量和发生误码的比特位的数量确定应答器报文的误码率，进而确定应答器的性能好坏。
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公开(公告)号：CN103095384A
公开(公告)日：2013-05-08
申请号：CN201210572701.3
申请日：2012-12-25
Applicant: 北京铁路信号有限公司
IPC: H04B17/00
Abstract: 本申请公开了一种地面电子单元LEU的闭环测试方法及系统，采用真实LEU与模拟设备相结合组成闭环测试系统，对LEU进行功能测试。在测试时，首先，利用模拟设备(列控中心)通过S接口向LEU发送原始报文(可变)，LEU接收报文后将其进行DBPL编码；然后，通过C接口不间断地向模拟设备(有源应答器)发送；最后，模拟设备(有源应答器)对收到的DBPL码进行解码，并将其与原始报文进行比较，实现对LEU的功能进行闭环检测的目的，从而实现对LEU的透明传输报文功能测试，确保LEU的正常工作状态。
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公开(公告)号：CN102307148A
公开(公告)日：2012-01-04
申请号：CN201110283070.9
申请日：2011-09-22
Applicant: 北京铁路信号有限公司
Abstract: 本发明公开了一种确定应答器报文误码率的方法。在本发明公开的方法中，从应答器报文的最高位开始，对1023个比特位构成的报文段进行译码，在获得正确译码的报文段之后，逐位向低位移动，当不能对报文段进行正确译码时，通过将该不能正确译码的报文段与正确译码的报文段进行比对，确定应答器报文中发生误码的比特位，之后根据应答器报文中比特位的总量和发生误码的比特位的数量确定应答器报文的误码率，进而确定应答器的性能好坏。
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公开(公告)号：CN202190280U
公开(公告)日：2012-04-11
申请号：CN201120343688.5
申请日：2011-09-14
Applicant: 北京铁路信号有限公司
IPC: H04L12/26
Abstract: 本实用新型公开了一种应答器和地面电子单元的测试设备，包括电子箱、上位机和设置在所述电子箱内部的测试电路板；所述上位机与所述电子箱内部的测试电路板相连接；所述测试电路板上设置有分别与所述应答器和所述地面电子单元相连接的接口电路。在本实用新型提供的方案中，由于上位机和电子箱的体积较小，所以工作人员可以将测试设备直接带到应答器和地面电子单元的所在地点，并对其进行报文读写操作或测试，因此，本实用新型提供的方案具有使用简单、携带方便和节约时间等优点。
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公开(公告)号：CN201904970U
公开(公告)日：2011-07-20
申请号：CN201020684687.2
申请日：2010-12-28
Applicant: 北京铁路信号有限公司
Abstract: 本申请公开了一种印制电路板，包括：多层印制电路板，且在每层印制电路板上均设置有层数信息标识。具体的，在层数信息区域内标注该层印制电路板所在层数信息，且保证各层印制电路板的层数信息依次排列互不掩盖，能够看到各层电路板的层数信息，这样，完成多层印制电路板的制造后，直接观察印制电路板上的层数信息区域内的层数信息，就可以判断出该多层印制电路板是否漏层的制造缺陷。本申请实施例提供的印刷电路板能够直观的显示层数信息，可以很方便地检测多层印制电路板是否有漏层缺陷。
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