公开(公告)号：CN115134008B

公开(公告)日：2024-02-09

申请号：CN202210582334.9

申请日：2022-05-26

Applicant: 北京邮电大学

Inventor： 李勇 ,  罗楠 ,  彭木根 ,  王文博

IPC: H04B17/00 ,  H04B17/15 ,  H04B17/29

Abstract: 本发明提出一种用于OTA测试的综合一体化测试系统及方法，其特征在于，包括：暗室、可重构智能超表面RIS、被测设备和探头，RIS设置在所述暗室内，被测设备与RIS处于相同平面，探头位于暗室的底端，且设置在距离RIS预设距离的位置上；用于进行射频测试和性能测试。本发明提供的系统通过调整信号源与探头，可以分别进行射频测试和性能测试，降低了测试成本。

公开(公告)号：CN115134008A

公开(公告)日：2022-09-30

申请号：CN202210582334.9

申请日：2022-05-26

Applicant: 北京邮电大学

Inventor： 李勇 ,  罗楠 ,  彭木根 ,  王文博

IPC: H04B17/00 ,  H04B17/15 ,  H04B17/29

Abstract: 本发明提出一种用于OTA测试的综合一体化测试系统及方法，其特征在于，包括：暗室、可重构智能超表面RIS、被测设备和探头，RIS设置在所述暗室内，被测设备与RIS处于相同平面，探头位于暗室的底端，且设置在距离RIS预设距离的位置上；用于进行射频测试和性能测试。本发明提供的系统通过调整信号源与探头，可以分别进行射频测试和性能测试，降低了测试成本。