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发明公开
一种协议的测试方法、装置、电子设备及存储介质审中-实审

公开(公告)号：CN114138671A

公开(公告)日：2022-03-04

申请号：CN202111514946.6

申请日：2021-12-13

Applicant: 北京邮电大学

Inventor： 崔宝江 , 侯晓庚 , 吴启凡 , 陈晨 , 李帅 , 毛立涛 , 王灏宇

IPC: G06F11/36

Abstract: 本申请实施例提供一种协议的测试方法、装置、电子设备及存储介质，其中，协议的测试方法包括：获取测试样本；利用强化学习模型对所述测试样本进行处理，获取反馈结果和模糊测试结果；将所述反馈结果输入预设的有限状态自动机模型，获取统计结果，所述统计结果用于检验所述模糊测试结果。基于统计结果，能够为模糊测试结果的测试效果和测试反馈提供支撑，以改善后续的强化学习模型，避免后续测试实施过程盲目，测试效率低下，测试的覆盖率偏低的技术问题。

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