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公开(公告)号：CN117082553A
公开(公告)日：2023-11-17
申请号：CN202310927452.3
申请日：2023-07-26
Applicant: 北京邮电大学
IPC: H04W24/08
Abstract: 本发明涉及一种用于RIS空口测试的双探头墙测试系统及其测试方法，所述测试系统包括微波暗室、发射端探头墙、接收端探头墙、待测RIS面板、电控测试转台、调幅调相网络、端口切换器、矢量网络分析仪和主控终端；所述测试方法包括步骤1，主控终端控制调幅调相网络依据幅相控制测试码本对输入赫兹信号进行幅相控制并馈送至输出端，步骤2，主控终端控制待测RIS面板依据相位测试码本进行相位调节，步骤3，主控终端控制电控测试转台旋转至指定测试角度等步骤。本发明的优越效果在于，利用发射端探头墙和接收端探头墙能覆盖一定的收发角度范围的物理特性。
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