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公开(公告)号：CN107741279A
公开(公告)日：2018-02-27
申请号：CN201711022214.9
申请日：2017-10-26
Applicant: 北京遥感设备研究所
IPC: G01J5/52
CPC classification number: G01J5/522 , G01J2005/0048
Abstract: 本发明公开了一种非制冷红外探测器的两点校正方法，利用两种辐射率不同的材料做挡片，对探测器进行两点校正。首先搭建非制冷红外探测器的两点校正系统，包括：挡片A、挡片B、探测器及输出电路模块、挡片控制模块和FPGA数据处理模块；然后利用探测器及输出电路模块采集模拟信号并转化为数字信号；利用挡片控制模块控制挡片A和挡片B有序的出现在探测器玻璃窗前，获得不同的辐射通量；最后利用FPGA数据处理模块利用采集数据实现两点非均匀校正。本发明对探测器光敏元的偏置和增益都作了补偿，有效地提高了成像质量。
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