一种基于多特显点的大图幅SAR自聚焦处理方法

    公开(公告)号:CN114415176B

    公开(公告)日:2024-09-03

    申请号:CN202111630916.1

    申请日:2021-12-28

    IPC分类号: G01S13/90

    摘要: 本发明公开一种基于多特显点的大图幅SAR自聚焦处理方法,包括:对SAR系统采样得到的距离脉压回波信号进行粗聚焦成像处理;在粗聚焦SAR图像选取每个距离单元的最大值,记录每个距离单元最大值的多普勒位置;根据系统的脉冲重复频率,将整个图像的多普勒等分为N个范围,在循环移位得到的图像中选取N个特显点分布于N个多普勒范围内;进行N个特显点的相位梯度自聚焦,获取N组相位误差值;将采用孔径划分为N段,对于第n段子孔径的回波信号使用对应n组相位误差进行补偿,在相邻两段子孔径的交界处采用滤波处理进行平滑。本发明解决大图幅SAR中单一特显点不能被所有孔径采样,导致相位误差错误估计的问题,提高了自聚焦处理的稳健性。

    一种用于辐射计成像的内外定标方法

    公开(公告)号:CN107991675B

    公开(公告)日:2021-05-07

    申请号:CN201610951337.X

    申请日:2016-10-27

    IPC分类号: G01S13/89 G01S7/40

    摘要: 本发明公开了一种用于辐射计成像的内外定标方法,包括:系统框架装置(1)、准光学装置(2)、辐射计阵列装置(3)、辐射计阵列定标装置(4)、数据采集器(5)、数据处理器(6)、电控装置(7)和显控模块(8)。该设备采用毫米波焦平面阵列成像技术,利用辐射计和馈源天线阵列实现对水平视场的覆盖及反射镜机械扫描实现对垂直视场的覆盖,通过椭球聚焦天线提高近场成像空间分辨率。发明利用设备中的辐射计阵列定标装置(4),通过先内定标再外定标的方式,可以提高辐射计成像的效果与精度。本发明与传统辐射计定标方法相比,具有测试效率高、图像效果好、精度高等优点。

    一种低成本双极化相控阵天线及处理方法

    公开(公告)号:CN112736494A

    公开(公告)日:2021-04-30

    申请号:CN202011382432.5

    申请日:2020-12-01

    IPC分类号: H01Q21/24 H01Q1/50

    摘要: 本发明公开了一种低成本双极化相控阵天线及处理方法,其中,低成本双极化相控阵天线,包括电连接的双极化天线阵面、极化开关模块、极化控制模块、T/R模块、收发开关、功率分配网络、功率合成网络和激励信号产生模块;极化开关模块位于双极化天线阵面和T/R模块之间,以通过极化开关模块的开闭实现工作模式的切换。本发明的技术方案有效地解决了现有技术中的双极化相控阵天线成本高、有限空间下实现难度大的问题。

    一种单脉冲雷达补偿系数自动校正系统

    公开(公告)号:CN110031810A

    公开(公告)日:2019-07-19

    申请号:CN201910305335.7

    申请日:2019-04-16

    IPC分类号: G01S7/40

    摘要: 本发明公开了一种单脉冲雷达补偿系数自动校正系统,包括:被测雷达(1)、数据采集器(2)、程控电压表(3)、信号源(4)、喇叭天线(5)、天线支架(6),以及综合控制模块(7)、伺服控制转接模块(8)、A/D补偿参数校正模块(9)、D/A补偿参数校正模块(10)、相位补偿参数校正模块(11)、S曲线斜率校正模块(12)。该系统通过信号源生成雷达信号,结合仪器远程控制技术,将补偿参数校正过程通过程序进行流程化控制,可以实现雷达补偿参数的自动校正,提高参数校正效率。

    一种基于控制点的斜视SAR图像单点目标分析方法

    公开(公告)号:CN114415177B

    公开(公告)日:2024-09-03

    申请号:CN202111648292.6

    申请日:2021-12-30

    IPC分类号: G01S13/90

    摘要: 本发明公开一种基于控制点的斜视SAR图像单点目标分析方法与系统,所述方法包括:对斜视SAR图像中的单点目标进行二维升采样成像,获得升采样的成像结果图;在所述升采样的成像结果图中选取图像质量分析控制点;利用所述控制点提取点目标的距离向剖面与方位向剖面;根据所述距离向剖面与方位向剖面,确定距离向图像质量参数与方位向图像质量参数。本发明相比于常规方法仅利用峰值点无法有效提取出斜视SAR点目标距离向剖面和方位向剖面,所述方法通过设置幅度比较窗选取图像质量分析控制点,并对控制点进行线性拟合,能够有效地提取出斜视SAR图像中的距离向和方位向剖面,从而进行斜视SAR成像质量分析。

    一种雷达信号多目标检测方法

    公开(公告)号:CN108169721B

    公开(公告)日:2021-06-15

    申请号:CN201711192851.0

    申请日:2017-11-24

    IPC分类号: G01S7/36

    摘要: 本发明公开了一种雷达信号多目标检测方法,首先对雷达信号进行多层阈值分割,提取出不同阈值下的检测点,将每层的检测点连接成目标块,并根据块之间的包含关系建立树结构,对每个目标块计算其包含点数的变化率,提取出变化率局部最小的目标块作为备选目标,最后排除重复的目标块。本发明方法能够在多目标的情况下,对各个目标进行分别检测,特别是在有干扰存在的情况下,能够提取出与干扰混叠在一起的目标,有效解决目前雷达信号目标检测方法抗干扰能力不足的问题。

    一种单脉冲雷达补偿系数自动校正系统

    公开(公告)号:CN110031810B

    公开(公告)日:2021-02-26

    申请号:CN201910305335.7

    申请日:2019-04-16

    IPC分类号: G01S7/40

    摘要: 本发明公开了一种单脉冲雷达补偿系数自动校正系统,包括:被测雷达(1)、数据采集器(2)、程控电压表(3)、信号源(4)、喇叭天线(5)、天线支架(6),以及综合控制模块(7)、伺服控制转接模块(8)、A/D补偿参数校正模块(9)、D/A补偿参数校正模块(10)、相位补偿参数校正模块(11)、S曲线斜率校正模块(12)。该系统通过信号源生成雷达信号,结合仪器远程控制技术,将补偿参数校正过程通过程序进行流程化控制,可以实现雷达补偿参数的自动校正,提高参数校正效率。

    一种快速二维CFAR目标检测系统及检测方法

    公开(公告)号:CN109100701A

    公开(公告)日:2018-12-28

    申请号:CN201811267196.5

    申请日:2018-10-29

    IPC分类号: G01S7/41

    摘要: 本发明公开了一种快速二维CFAR目标检测系统及检测方法。包括:相参积累结果读取模块、距离维CFAR检测模块、速度维CFAR检测模块;所述相参积累结果读取模块读取回波相积累结果,并记录;距离维CFAR检测模块对相参积累结果在距离维进行CFAR检测;速度维CFAR检测模块将通过距离维CFAR的点在速度维进行CFAR检测。通过将二维相参积累结果分解到距离维和速度维分别做CFAR检测实现快速二维CFAR检测,经过工程实践验证,可以大大减少检测时间,满足雷达实时处理需求。

    一种雷达信号多目标检测方法

    公开(公告)号:CN108169721A

    公开(公告)日:2018-06-15

    申请号:CN201711192851.0

    申请日:2017-11-24

    IPC分类号: G01S7/36

    摘要: 本发明公开了一种雷达信号多目标检测方法,首先对雷达信号进行多层阈值分割,提取出不同阈值下的检测点,将每层的检测点连接成目标块,并根据块之间的包含关系建立树结构,对每个目标块计算其包含点数的变化率,提取出变化率局部最小的目标块作为备选目标,最后排除重复的目标块。本发明方法能够在多目标的情况下,对各个目标进行分别检测,特别是在有干扰存在的情况下,能够提取出与干扰混叠在一起的目标,有效解决目前雷达信号目标检测方法抗干扰能力不足的问题。

    一种用于辐射计成像的内外定标方法

    公开(公告)号:CN107991675A

    公开(公告)日:2018-05-04

    申请号:CN201610951337.X

    申请日:2016-10-27

    IPC分类号: G01S13/89 G01S7/40

    摘要: 本发明公开了一种用于辐射计成像的内外定标方法,包括:系统框架装置(1)、准光学装置(2)、辐射计阵列装置(3)、辐射计阵列定标装置(4)、数据采集器(5)、数据处理器(6)、电控装置(7)和显控模块(8)。该设备采用毫米波焦平面阵列成像技术,利用辐射计和馈源天线阵列实现对水平视场的覆盖及反射镜机械扫描实现对垂直视场的覆盖,通过椭球聚焦天线提高近场成像空间分辨率。发明利用设备中的辐射计阵列定标装置(4),通过先内定标再外定标的方式,可以提高辐射计成像的效果与精度。本发明与传统辐射计定标方法相比,具有测试效率高、图像效果好、精度高等优点。