-
公开(公告)号:CN112269732A
公开(公告)日:2021-01-26
申请号:CN202011097889.1
申请日:2020-10-14
Applicant: 北京轩宇信息技术有限公司
Abstract: 本发明公开了一种软件缺陷预测特征的选择方法及装置。所述方法包括:根据历史软件缺陷数据库,获取领域缺陷数据集;基于Bootstrap抽样技术对所述领域缺陷数据集进行抽样处理,生成软件缺陷样本集;基于所述软件缺陷样本集和马尔科夫毯模型,对原始特征进行分组,得到多个特征组;根据预先设计的启发式特征选择策略,从所述多个特征组中筛选出初始特征,得到筛选的候选特征序列;基于遗传算法从所述候选特征序列中搜索出目标特征子集。本发明能够更有效地提高软件缺陷预测准确性。
-
公开(公告)号:CN112269732B
公开(公告)日:2024-01-05
申请号:CN202011097889.1
申请日:2020-10-14
Applicant: 北京轩宇信息技术有限公司
Abstract: 本发明公开了一种软件缺陷预测特征的选择方法及装置。所述方法包括:根据历史软件缺陷数据库,获取领域缺陷数据集;基于Bootstrap抽样技术对所述领域缺陷数据集进行抽样处理,生成软件缺陷样本集;基于所述软件缺陷样本集和马尔科夫毯模型,对原始特征进行分组,得到多个特征组;根据预先设计的启发式特征选择策略,从所述多个特征组中筛选出初始特征,得到筛选的候选特征序列;基于遗传算法从所述候选特征序列中搜索出目标特征子集。本发明能够更有效地提高软件缺陷预测准确性。
-