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公开(公告)号:CN117387662A
公开(公告)日:2024-01-12
申请号:CN202311378029.9
申请日:2023-10-24
Applicant: 北京计算机技术及应用研究所
Abstract: 本发明提供了一种用于SLD光源的平均波长稳定性筛选检测装置,主要由光源驱动仪、光开关、敏感环组件、PIN‑FET探测器、信号检测电路、转位机构、温度控制装置和上位机组成。用于光纤陀螺仪制造过程中,在装配前对SLD光源的平均波长稳定性进行检测,测试数据能够直接反映该器件在光纤陀螺仪上的应用时的性能,检测快速、方便、准确。