间歇性工作逻辑门模型及建立方法

    公开(公告)号:CN110941913A

    公开(公告)日:2020-03-31

    申请号:CN201911268789.8

    申请日:2019-12-11

    IPC分类号: G06F30/20

    摘要: 间歇性工作逻辑门模型,表示:当主单元输入事件在工作期间发生故障之后或者达到规定的工作时间之后,输出事件为故障状态或者停机状态;当辅助单元输入事件为故障状态时,若现有输出事件为故障状态,则输出事件状态不变,若现有输出事件为停机状态,则输出事件变为故障状态;间歇式工作逻辑门的逻辑关系包括:单元发生故障时单元状态之间的逻辑关系,单元在故障之后修复过程中单元状态之间的逻辑关系。还提供了模型的建立方法。

    一种基于故障混杂模型的机电系统寿命预测方法

    公开(公告)号:CN109241558B

    公开(公告)日:2019-12-20

    申请号:CN201810856351.0

    申请日:2018-07-31

    IPC分类号: G06F17/50

    摘要: 本发明涉及一种基于故障混杂模型的机电系统寿命预测方法,属于可靠性工程技术领域,解决了现有技术中机电系统寿命预测效率低下、成本高的问题。步骤如下:将机电系统按照功能分为若干功能模块;建立各功能模块的故障混杂模型,得到相应的功能模块故障混杂模型传递函数;同时对机电系统无故障和故障混杂情况进行仿真,获取机电系统无故障输出信号、机电系统发生混杂故障时的输出信号及故障特征值,通过故障特征值达到故障阈值的时间预测机电系统的寿命。该方法能够有效提高机电系统寿命预测效率、降低预测成本;此外,该方法可以在产品设计阶段对产品进行寿命预测,为后续产品改进设计、发现薄弱环节提供依据。

    基于自适应蚁狮优化的支持向量机故障预测方法

    公开(公告)号:CN109767036A

    公开(公告)日:2019-05-17

    申请号:CN201811620290.4

    申请日:2018-12-28

    IPC分类号: G06Q10/04 G06K9/62 G06N3/00

    摘要: 本发明一种基于自适应蚁狮优化的支持向量机故障预测方法,包括以下步骤:步骤一:首先进行预处理:步骤二:初始化蚁狮参数:步骤三:训练支持向量机回归模型:步骤四:根据测试集来计算适应度:步骤五:运用单步循环迭代的方法预测寿命曲线。本发明针对由于通过监测电路发生退化的一段时间内的历史数据作为训练样本,样本数有限,此时,采用传统的多步预测方法对特征参数值进行预测时,未来时刻的多个预测值是同时估计出的,随着预测距离的增加,预测的误差将逐渐增大。该方法在每次循环中都用新的预测值代替了较早时刻的初始值作为训练样本,实时更新了样本,减少了累积误差,使得每次预测的误差值减到最小。使计算结果更加准确。

    一种可修退化系统周期性预防维修策略的优化方法

    公开(公告)号:CN107229979A

    公开(公告)日:2017-10-03

    申请号:CN201710249943.1

    申请日:2017-04-17

    IPC分类号: G06Q10/00 G06Q10/04

    CPC分类号: G06Q10/04 G06Q10/20

    摘要: 本发明提供一种可修退化系统周期性预防维修策略的优化方法,对累积泊松冲击下可修退化系统的可靠度模型进行分类,根据情况选择适合的可靠性模型并对其进行简化,将其作为约束条件运用到预防维修策略优化模型中,得到更为实用的预防维修策略优化模型。本发明综合考虑了系统维修费用及系统在任一时刻处于正常状态的概率,并在满足可靠性指标的前提下,确定最优预防维修周期及系统更新周期。避免过度维修造成人力物力的损耗,又能避免维修不及时给企业生产带来不便和经济损失,在系统维护上为企业获得最大利益。也能够指导企业制定合理的设备维修策略,降低企业生产成本。

    基于定性推理的放大电路故障传播分析方法

    公开(公告)号:CN103226636B

    公开(公告)日:2015-11-18

    申请号:CN201310145497.1

    申请日:2013-04-24

    IPC分类号: G06F17/50

    摘要: 基于定性推理的放大电路故障传播分析方法,其步骤如下:1,将放大电路系统层次化分解为电路系统层、功能模块层、元器件层,并进行功能逻辑分析;2,建立放大电路中各类元器件级连通性模型;3,建立功能模块级定性网络;4,建立系统级定性网络;5,选择故障源节点并进行描述;6,以广度优先搜索原则进行故障源节点所在层次定性网络的横向传播推理;7,将横向传播推理结果向上层定性网络中对应节点传递,令该上层节点为点B;8,将点B作为新的故障源节点;9,判断故障源节点是否为放大电路系统的顶层节点。若不是,则返回步骤6;若是,执行步骤10;10,网络稳定后进行故障传播结果记录和故障影响标识。本发明解决了现有定性方法无法解算非结构性故障的困难,并且能直观地反映故障信号在传播过程中的变化情况,具有工程应用价值。

    一种基于SOM和D-S理论的电表电路故障信息融合和诊断方法

    公开(公告)号:CN102721941B

    公开(公告)日:2014-08-20

    申请号:CN201210210828.0

    申请日:2012-06-20

    IPC分类号: G01R35/04

    摘要: 一种基于SOM和D-S证据理论的电表电路故障信息融合和诊断方法,该方法步骤如下:一:根据对电能表故障电路的电路分析,并按照GJB299C规定的故障模式,对故障电路建立故障模式集合;二:根据步骤一的故障模式集合选取与集合中故障模式相对应的待观测的故障信号点,作为电路功能和状态的测试点;三:对在步骤二中选取的故障信号点处获取的故障信号进行预处理;四:使用SOM进行故障信息融合,输出故障结论;选择70%的数据进行训练,选择30%的数据进行测试;五:使用D-S证据理论对故障结论进行融合,做出故障决策;该方法对故障诊断的结果的信任程度进一步增加,减小了因为误差带来的整体不确定性,大大提高了故障诊断的准确性,是信息融合领域非常重要的手段。

    基于梁结构的多层印制电路板镀通孔应力-应变模型建立方法

    公开(公告)号:CN103778293A

    公开(公告)日:2014-05-07

    申请号:CN201410031176.3

    申请日:2014-01-23

    IPC分类号: G06F17/50 H05K1/11 H05K3/42

    摘要: 基于梁结构的多层印制电路板镀通孔应力-应变模型建立方法,步骤如下:1,将多层印制电路板镀通孔简化为轴对称的梁结构,基于梁结构建立假设条件;2,把焊盘结构看做环形圆板并受均布载荷,设焊盘内径简支和外径自由的边界条件;3,基于焊盘均布载荷的假设列写焊盘力学常微分方程,求解挠度的通解表达式;4,利用边界条件确定通解表达式中的四个待定系数,结合位移连续条件列出载荷与挠度、承载力和热应变的关系;5,结合边界条件确定应力最大处的径向、环向和轴向应力,利用米塞斯等效应力计算公式计算等效应力;6,根据镀层材料的线弹性和线塑性应力‐应变关系,给出多层印制电路板镀通孔弹性和塑性范围内的应变解析表达式。

    基于PSPICE的电路故障判定方法

    公开(公告)号:CN102142051B

    公开(公告)日:2013-02-20

    申请号:CN201110063506.3

    申请日:2011-03-16

    IPC分类号: G06F17/50

    摘要: 一种基于PSPICE的电路故障判定方法,假定通过PSPICE仿真已获得正常电路仿真结果和故障电路仿真结果,步骤如下:1构建判据树:判据树是一种对判据进行量化,描述判据逻辑关系的树形结构;2判据设置:判据分为三种,分别是电路级判据,信号级判据和参数级判据;3判据校核:当判据设置好之后,先进行校核,校核是用该判据去判定正常电路仿真的结果文件,如果判定结果为故障,说明判据设置不合适,再返回步骤二;否则保存判据;4故障判定:电路注入故障后,判断故障对系统功能状态的影响;先求取指标值,再给出判定结果;5结果分析:将判定结果反馈给设计人员,帮助其发现产品设计中的不足,完善电路系统的可靠性设计。

    一种装备RMS分析仿真任务的逻辑流程建立方法

    公开(公告)号:CN102103649B

    公开(公告)日:2013-02-20

    申请号:CN201110063816.5

    申请日:2011-03-16

    IPC分类号: G06F17/50

    摘要: 一种装备RMS分析仿真任务的逻辑流程建立方法,其步骤如下:1)按照任务层次对基本作战单元的任务过程进行分解;2)按照分解后的任务层次,制定任务计划;3)按照任务计划,开始执行任务剖面。任务剖面开始时根据任务剖面执行所需的装备数量进行装备调度;4)若装备调度成功,开始执行任务单元,进入任务单元执行逻辑;若装备调度失败,进入任务剖面结束处理逻辑;5)任务单元结束流程;6)任务剖面结束流程。本发明提出了一种通用的装备RMS分析仿真任务的逻辑流程建立方法,提高了装备RMS分析仿真的水平,指导了装备RMS分析工作的开展、实施,提高了装备RMS分析的客观性、全面性和科学性。

    基于“寿命-应力”模型的电子产品加速寿命试验方法

    公开(公告)号:CN102252898A

    公开(公告)日:2011-11-23

    申请号:CN201110170973.6

    申请日:2011-06-23

    IPC分类号: G01N3/00

    摘要: 基于“寿命-应力”模型的电子产品加速寿命试验方法,该方法有八大步骤。步骤一:定义样本寿命特征;步骤二:定义失效判据;步骤三:最大应力组合的加速寿命试验;步骤四:其他组合的加速寿命试验,即进行包括除最大应力组合外另外的四组不同应力组合的试验;步骤五:失效数据处理,即借助威布尔分布拟合分析方法拟合各组试验样本的寿命总体的威布尔分布模型,并求出相应的寿命特征参数;步骤六:估计加速模型参数;步骤七:使用条件下温湿应力确定;步骤八:外推使用条件下样本失效分布。本发明能显著地缩短电子产品加速寿命试验的时间,提高试验结果的精度。它在加速寿命试验技术领域里具有较好的实用价值和广阔的应用前景。