公开(公告)号：CN115877199A

公开(公告)日：2023-03-31

申请号：CN202211730885.1

申请日：2022-12-30

Applicant: 北京航天测控技术有限公司

Inventor： 李明军 ,  刘延迪 ,  杨旸 ,  郑永丰 ,  杜微 ,  张璐 ,  胡喨 ,  闫俊杰

IPC: G01R31/327 ,  G01R1/04

Abstract: 本发明公开了一种微波开关自动测试设备及方法，包括：电源模块、控制模块、执行模块、电路模块和测量模块；其中的电路模块具有仪器端接口和待测产品端接口；待测产品端接口数量等于待测微波开关的通道数量；待测产品端接口与待测微波开关对应连接后，通过调节电路模块中电路的通断，在不改变与待测微波开关间的接线情况下，实现待测微波开关任意两通道的导通；使用本发明能够实现一次接线即可完成射频性能和低频性能两种工况下的多指标测试，提供微波开关两两端口的自由组合，有效避免测试人员频繁更换电缆带来的效率低下以及射频端口提前老化损伤问题，简化测试步骤、提高测试效率。