一种应用于太赫兹成像系统的对角喇叭天线阵列

    公开(公告)号:CN106911008B

    公开(公告)日:2019-11-05

    申请号:CN201710048342.4

    申请日:2017-01-23

    Abstract: 本发明公开了一种应用于太赫兹成像系统的对角喇叭天线阵列,包括对角喇叭天线,所述对角喇叭天线有9个,9个对角喇叭天线分三排,每排3个、列向交错排列设置在一个平板上,9个对角喇叭天线与功分器连接,所述功分器为9波导结构,所述9波导结构与所述9个对角喇叭天线相对应分为三组波导,每一组波导有三个输入接口,三组波导的9个输入接口与三排9个对角喇叭天线顺序排列相同垂直于平板端面直线连接在对角喇叭天线的输出接口上。本发明改善了太赫兹波段近距离被动安检成像系统在高分辨率条件下,成像时间较长的缺点,9个对角喇叭接收天线阵列结合并行接收、交错排列的空间排布方式实现快速的高效率安检成像;空间结构简单,精度高。

    一种基于椭球面镜聚焦的高分辨率快速扫描成像的准光系统

    公开(公告)号:CN104898171B

    公开(公告)日:2018-06-22

    申请号:CN201510294462.3

    申请日:2015-06-02

    Abstract: 本发明公开了一种基于椭球面镜聚焦的高分辨率快速扫描成像的准光系统,包括一个平面镜、一个聚光镜、和一个接收天线,所述聚光镜是椭球面镜,在椭球面镜与接收天线之间还设置有一个楔面镜,楔面镜接收椭球面镜的反射光信息,并将该反射光信息反射至接收天线,其中,所述平面镜为镜面面向被测物体俯仰摆动的俯仰平面镜,所述楔面镜是其楔面面向椭球面镜和接收天线旋转的旋转楔面镜。本发明改善了太赫兹波段近距离被动安检成像分辨率较低,时间较长的缺点,采用椭球面反射镜、旋转楔面镜及探测器阵列结合的方式实现高分辨率快速的高效率安检成像;控制简单,精度高,可广泛应用于机场、地铁、轮渡码头及一些公共场所近距离安检成像领域。

    一种起落架的控制方法及装置、电子设备、存储介质

    公开(公告)号:CN113753223A

    公开(公告)日:2021-12-07

    申请号:CN202010491780.X

    申请日:2020-06-02

    Abstract: 本发明实施例提供一种起落架的控制方法、装置、电子设备和存储介质,应用于起落架控制器中的监测单片机,所述起落架控制器还包括与所述监控单片机连接的多个控制板以及电机驱动板,所述方法包括:从所述多个控制板中确定主控制板和备控制板;判断所述主控制板的工作状态是否正常;若否,则断开所述主控制板与所述电机驱动板之间的连接,建立所述备控制板与所述电机驱动板之间的连接;其中,所述电机驱动板用于控制所述起落架的收起和放下。在主控制板发生故障的时候,可自动无缝切换为备控制板,避免出现无法对起落架进行控制的情况,避免发生无人机坠毁的事故。

    导引头性能测试方法
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105953656B

    公开(公告)日:2019-05-24

    申请号:CN201610291034.X

    申请日:2016-05-04

    Abstract: 本发明公开了一种导引头性能测试方法,包括:步骤S1:对导引头通电;步骤S2:控制光源绕水平转轴做俯仰回转运动;和/或控制光源绕竖直转轴做水平回转转动;步骤S3:对导引头进行性能测试;步骤S4:输出测试报告;步骤S3包括下列至少之一:对导引头最大跟踪速度测试、对导引头瞬时视场角进行测试、对视线角速度进行零位最大偏差测试、对导引头输出噪声进行最大起伏测试、对导引头搜索周期进行测试、对框架角精度进行测试、对预制框架角进行测试、对导引头搜索策略进行测试、以及对导引头灵敏度进行测试。根据本发明的导引头性能测试方法,能够解决现有技术中的导引头性能测试方法无法测试导引头对动态目标的追踪捕捉性能的问题。

    导引头性能测试方法
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105953656A

    公开(公告)日:2016-09-21

    申请号:CN201610291034.X

    申请日:2016-05-04

    CPC classification number: F41G3/32

    Abstract: 本发明公开了一种导引头性能测试方法,包括:步骤S1:对导引头通电;步骤S2:控制光源绕水平转轴做俯仰回转运动;和/或控制光源绕竖直转轴做水平回转转动;步骤S3:对导引头进行性能测试;步骤S4:输出测试报告;步骤S3包括下列至少之一:对导引头最大跟踪速度测试、对导引头瞬时视场角进行测试、对视线角速度进行零位最大偏差测试、对导引头输出噪声进行最大起伏测试、对导引头搜索周期进行测试、对框架角精度进行测试、对预制框架角进行测试、对导引头搜索策略进行测试、以及对导引头灵敏度进行测试。根据本发明的导引头性能测试方法,能够解决现有技术中的导引头性能测试方法无法测试导引头对动态目标的追踪捕捉性能的问题。

    一种太赫兹波安检成像装置

    公开(公告)号:CN105044017A

    公开(公告)日:2015-11-11

    申请号:CN201510364628.4

    申请日:2015-06-26

    Abstract: 本发明实施例提供了一种太赫兹波安检成像装置,包括:楔形俯仰扫描镜、楔形旋转扫描镜、椭球面镜、探测器和处理器;楔形俯仰扫描镜将被测物体反射的太赫兹波反射至椭球面镜;椭球面镜汇聚太赫兹波至楔形旋转扫描镜;楔形旋转扫描镜将太赫兹波反射至探测器,形成对被测物体进行扫描的光路;探测器接收太赫兹波,转换太赫兹波,生成电压信号;处理器接收电压信号,生成太赫兹图像。通过本发明实施例提供的一种太赫兹波安检成像装置,可以利用被测物体反射的太赫兹波,生成太赫兹图像,识别被测物体中的违禁物品,实现对被测物体的安检。

    一种被动式太赫兹人体安检仪的性能测试方法和装置

    公开(公告)号:CN107515431A

    公开(公告)日:2017-12-26

    申请号:CN201710539312.3

    申请日:2017-07-04

    CPC classification number: G01V13/00

    Abstract: 本发明实施例提供了一种被动式太赫兹人体安检仪的性能测试方法和装置,所述方法包括:选取一种性能测试的类型,并依据类型确定对应的待测对象,待测对象包括背景底板和位于背景底板上的至少一个测试块;从安检仪中获取待测对象的图像信息,图像信息是由安检仪对待测对象扫描成像生成的,所述图像信息包括:图像、测试块分布信息和测试块属性信息;依据所述图像信息,获取类型对应的目标参数,目标参数至少包括以下一种:测试块的分布参数和测试块的属性参数;依据目标参数确定对应的性能值;其中,类型包括以下至少一种:成像范围类型、空间分辨率类型和材料分辨率类型;从而通过对不同类型的待测对象的图像信息的分析,确定对应的性能值。

    一种应用于太赫兹成像系统的对角喇叭天线阵列

    公开(公告)号:CN106911008A

    公开(公告)日:2017-06-30

    申请号:CN201710048342.4

    申请日:2017-01-23

    Abstract: 本发明公开了一种应用于太赫兹成像系统的对角喇叭天线阵列,包括对角喇叭天线,所述对角喇叭天线有9个,9个对角喇叭天线分三排,每排3个、列向交错排列设置在一个平板上,9个对角喇叭天线与功分器连接,所述功分器为9波导结构,所述9波导结构与所述9个对角喇叭天线相对应分为三组波导,每一组波导有三个输入接口,三组波导的9个输入接口与三排9个对角喇叭天线顺序排列相同垂直于平板端面直线连接在对角喇叭天线的输出接口上。本发明改善了太赫兹波段近距离被动安检成像系统在高分辨率条件下,成像时间较长的缺点,9个对角喇叭接收天线阵列结合并行接收、交错排列的空间排布方式实现快速的高效率安检成像;空间结构简单,精度高。

    一种基于被动太赫兹安检成像系统的成像方法

    公开(公告)号:CN104849770B

    公开(公告)日:2016-04-06

    申请号:CN201510294687.9

    申请日:2015-06-02

    Abstract: 本发明公开了一种基于被动太赫兹安检成像系统的成像方法,包括:平面镜俯仰摆动对被测物体进行场方向的扫描,椭球面镜聚光镜将平面镜反射的扫描光会聚成高斯光束,楔面镜旋转接收椭球面镜的反射光信息完成对被测物体行方向的扫描;本发明专利的优点在于,改善了太赫兹波人体安检成像扫描控制速度,结合了旋转扫描和俯仰扫描的优点,实现快速、高精度人体成像,并且此方法不需要采用大量探测器阵列,可以大大降低设备成本。

    一种被动式太赫兹人体安检仪成像时间的确定方法和装置

    公开(公告)号:CN107526713B

    公开(公告)日:2021-06-11

    申请号:CN201710539309.1

    申请日:2017-07-04

    Abstract: 本发明实施例提供了一种被动式太赫兹人体安检仪成像时间的确定方法和装置,其中,所述方法包括:从所述安检仪中获取N个测试时间,所述测试时间是所述安检仪对测试对象进行扫描成像的时间;依据各测试时间,确定对应的正态分布函数;依据卡方检测算法和所述正态分布函数,判断测试时间是否服从正态分布;若测试时间服从正态分布,则依据所述正态分布函数和预设概率,确定所述安检仪的成像时间信息。本发明实施例将安检仪对测试对象进行多次扫描成像的时间作为测试时间,通过对测试时间正态性的分析,确定安检仪的成像时间信息。

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