一种高精度铍材半球通孔的研磨方法

    公开(公告)号:CN104858721B

    公开(公告)日:2017-05-03

    申请号:CN201510218285.0

    申请日:2015-04-30

    Abstract: 本发明涉及特种材料高精度研磨技术领域,特别涉及一种铍材动压马达半球零件通孔的研磨方法。本发明提出了选择合理的磨料配方、改进研具形状、材料等切实有效的方法,满足了半球通孔圆柱度精度0.5μm以内和表面粗糙度Ra0.02μm的设计图纸要求,解决了半球孔与轴的研配关键。实践证明:此种方法满足了设计精度要求,并且效率高,操作方便,目前已广泛应用到实际工作中。

    一种用于铍材镜体研磨抛光的研磨平板及研磨抛光方法

    公开(公告)号:CN113829176A

    公开(公告)日:2021-12-24

    申请号:CN202111015122.4

    申请日:2021-08-31

    Abstract: 本发明提供了一种用于铍材镜体研磨抛光的研磨平板及研磨抛光方法,研磨平板包括粗研平板、精研平板和抛光平板,其中,所述粗研平板的研磨面上加工有槽体结构,且研磨面上嵌入有研料,研料粒度为W3~W5;所述精研平板的研磨面上加工有槽体结构,且研磨面上嵌入有研料,研料粒度为W1~W2;所述抛光平板的研磨面上加工有槽体结构,且研磨面上嵌入有研料,研料粒度为W0.5~W1。在铍材镜体研磨抛光时,分别进行粗研工序、精研工序和抛光工序。经过本发明研磨平板和方法可使铍材镜体表面形成光亮的反射表面,铍材镜体平面度优于0.1μm,表面无划痕,表面粗糙度达到Ra 0.02μm,具备良好的反光性能,攻克了铍基体本身硬度低、易划伤、反光性能差等加工难题。

    一种高精度铍材半球通孔的研磨方法

    公开(公告)号:CN104858721A

    公开(公告)日:2015-08-26

    申请号:CN201510218285.0

    申请日:2015-04-30

    CPC classification number: B24B1/00

    Abstract: 本发明涉及特种材料高精度研磨技术领域,特别涉及一种铍材动压马达半球零件通孔的研磨方法。本发明提出了选择合理的磨料配方、改进研具形状、材料等切实有效的方法,满足了半球通孔圆柱度精度0.5μm以内和表面粗糙度Ra0.02μm的设计图纸要求,解决了半球孔与轴的研配关键。实践证明:此种方法满足了设计精度要求,并且效率高,操作方便,目前已广泛应用到实际工作中。

    一种六面体高精度形位测量装置及方法

    公开(公告)号:CN104596410A

    公开(公告)日:2015-05-06

    申请号:CN201510016621.3

    申请日:2015-01-13

    Abstract: 本发明涉及航天惯性器件精密检测技术领域,特别涉及一种六面体高精度形位测量装置及方法。该装置包括电感测微仪、大理石定位平板、电感测头、第一测头固定块、第二测头固定块、标准平行刀口尺或标准棒、测头连接线、第一支架和第二支架。本发明的方法,检测时间短,检测效率高。一组平面的形位关系检测时间只需2分钟,而进口高精度三坐标测试仪检测时间约为20分钟以上,检测效率提高了10倍以上。

    一种用于铍材镜体研磨抛光的研磨平板及研磨抛光方法

    公开(公告)号:CN113829176B

    公开(公告)日:2023-04-14

    申请号:CN202111015122.4

    申请日:2021-08-31

    Abstract: 本发明提供了一种用于铍材镜体研磨抛光的研磨平板及研磨抛光方法,研磨平板包括粗研平板、精研平板和抛光平板,其中,所述粗研平板的研磨面上加工有槽体结构,且研磨面上嵌入有研料,研料粒度为W3~W5;所述精研平板的研磨面上加工有槽体结构,且研磨面上嵌入有研料,研料粒度为W1~W2;所述抛光平板的研磨面上加工有槽体结构,且研磨面上嵌入有研料,研料粒度为W0.5~W1。在铍材镜体研磨抛光时,分别进行粗研工序、精研工序和抛光工序。经过本发明研磨平板和方法可使铍材镜体表面形成光亮的反射表面,铍材镜体平面度优于0.1μm,表面无划痕,表面粗糙度达到Ra 0.02μm,具备良好的反光性能,攻克了铍基体本身硬度低、易划伤、反光性能差等加工难题。

    一种六面体高精度形位测量装置及方法

    公开(公告)号:CN104596410B

    公开(公告)日:2018-01-05

    申请号:CN201510016621.3

    申请日:2015-01-13

    Abstract: 本发明涉及航天惯性器件精密检测技术领域,特别涉及一种六面体高精度形位测量装置及方法。该装置包括电感测微仪、大理石定位平板、电感测头、第一测头固定块、第二测头固定块、标准平行刀口尺或标准棒、测头连接线、第一支架和第二支架。本发明的方法,检测时间短,检测效率高。一组平面的形位关系检测时间只需2分钟,而进口高精度三坐标测试仪检测时间约为20分钟以上,检测效率提高了10倍以上。

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