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公开(公告)号：CN107783270B
公开(公告)日：2020-07-14
申请号：CN201711194990.7
申请日：2017-11-24
Applicant: 北京空间机电研究所
Abstract: 本发明公开了一种大视场及小F数线面结合的遥感相机光学配准方法及系统。其中，该方法包括以下步骤：将待配准相机主体与二维转台的台面连接；步骤S200:确定相机线阵通道和面阵通道的最佳焦面位置；搭建配准光路；确保反射光能够充满相机镜头的全口径；在显示器的屏幕上绘制成正交的十字丝，使十字丝靶标能聚焦成像到显示器的中心；使得线阵CCD的像元与显示器的十字丝的水平线平行；使得面阵CCD的第一行像元与显示器的十字丝的水平线平行；将面阵CCD的第X行像元对准显示器的十字丝；验证是否将面阵CCD的第X行像元与显示器的十字丝的水平线对准。本发明一次性解决了大视场、小F数轻小型遥感相机的高精度系统集成及线阵‑面阵光学配准难题。
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公开(公告)号：CN109238656A
公开(公告)日：2019-01-18
申请号：CN201810796768.2
申请日：2018-07-19
Applicant: 北京空间机电研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 一种超大口径杂散光测试光源及其控制方法，通过桁架式曲面支架、光源和控制系统实现。桁架式曲面支架整体呈现为圆球形或者二次曲面形状，采用桁架式结构形成纵横网络，每一个网络节点放置一个万向调整装置。在每一个万向调节装置上放置两个光源，其中一个为平行光源，另一个为具有一定散射角的散射光源。当使用准直光源时，所有光源出射光构成近似平行光束，当使用散射光源时，所有光源出射光构成近似Lamb光源。进行杂散光测试时，控制系统可控制每一个万象调节装置，实现对于不同出射角度的光束调整；控制系统同时可以控制每一个光源的开关和强弱，实现对于光束大小和强弱的调整。本发明作为一种新颖的杂散光测试光源，规模小、加工制造方便，可应用于光学系统的杂散光测试，尤其适用于超大口径的杂散光测试。
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公开(公告)号：CN107783270A
公开(公告)日：2018-03-09
申请号：CN201711194990.7
申请日：2017-11-24
Applicant: 北京空间机电研究所
Abstract: 本发明公开了一种大视场及小F数线面结合的遥感相机光学配准方法及系统。其中，该方法包括以下步骤：将待配准相机主体与二维转台的台面连接；步骤S200:确定相机线阵通道和面阵通道的最佳焦面位置；搭建配准光路；确保反射光能够充满相机镜头的全口径；在显示器的屏幕上绘制成正交的十字丝，使十字丝靶标能聚焦成像到显示器的中心；使得线阵CCD的像元与显示器的十字丝的水平线平行；使得面阵CCD的第一行像元与显示器的十字丝的水平线平行；将面阵CCD的第X行像元对准显示器的十字丝；验证是否将面阵CCD的第X行像元与显示器的十字丝的水平线对准。本发明一次性解决了大视场、小F数轻小型遥感相机的高精度系统集成及线阵-面阵光学配准难题。
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公开(公告)号：CN104280120B
公开(公告)日：2016-08-24
申请号：CN201410555278.5
申请日：2014-10-20
Applicant: 北京空间机电研究所
Abstract: 本发明提供一种光谱带宽测量方法和装置。本发明的方法包括，S1，单色仪输出波长为λ的单色光；S2，成像光谱仪的探测器上接受波长为λ的单色光的光斑，读取光斑位置上第一像元的光强；S3，单色仪改变输出波长，输出多个波长间隔为Δλ的单色光；通过第二像元和/或第一像元上的光强变化量，计算得出单色光的分布曲线上的n个强度取样点；S4，由n个强度取样点拟合出整个单色光光斑的强度分布，并得出光谱带宽。本发明的测量方法采取波长变化的一组单色光来测量光谱带宽，测量精度和输入单色光的波长间隔有关，波长间隔越小，测得的光谱带宽精度越高。相较于现有的方法，大大提高了光谱带宽的测量精度。
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公开(公告)号：CN104902153A
公开(公告)日：2015-09-09
申请号：CN201510272099.5
申请日：2015-05-25
Applicant: 北京空间机电研究所
Abstract: 本发明一种多光谱相机色彩校正方法，本发明的光路系统由积分球光源、透射式24色标准色板、带开孔的挡光板、平行光管、光谱辐射计组成。积分球光源出射的光束经过透射式24色标准色板的色块及带开孔的挡光板，到达平行光管焦面处，经平行光管准直后入射到光谱辐射计获得原始数据。本发明实现了各种类型、各种口径的线阵CCD航天遥感多光谱相机以及大视场长焦距面阵多光谱相机的色彩校正。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104280120A
公开(公告)日：2015-01-14
申请号：CN201410555278.5
申请日：2014-10-20
Applicant: 北京空间机电研究所
Abstract: 本发明提供一种光谱带宽测量方法和装置。本发明的方法包括，S1，单色仪输出波长为λ的单色光；S2，成像光谱仪的探测器上接受波长为λ的单色光的光斑，读取光斑位置上第一像元的光强；S3，单色仪改变输出波长，输出多个波长间隔为Δλ的单色光；通过第二像元和/或第一像元上的光强变化量，计算得出单色光的分布曲线上的n个强度取样点；S4，由n个强度取样点拟合出整个单色光光斑的强度分布，并得出光谱带宽。本发明的测量方法采取波长变化的一组单色光来测量光谱带宽，测量精度和输入单色光的波长间隔有关，波长间隔越小，测得的光谱带宽精度越高。相较于现有的方法，大大提高了光谱带宽的测量精度。
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公开(公告)号：CN106651793B
公开(公告)日：2019-05-24
申请号：CN201611073975.2
申请日：2016-11-29
Applicant: 北京空间机电研究所
Abstract: 一种PST杂散光测试数据处理方法如下：(1)基于遥感相机PST特性以及CCD探测器性能的综合评估，反演出对于测环境杂散光的要求；(2)通过对不同状态下杂散光测试图像进行差分计算，分离、提取各类测试噪声在CCD探测器上的分布，从而完成测试噪声的剥离；(3)对剥离测试噪声后的测试图像进行数理分析，解析出图像数据的规模和数值的分布特点；(4)根据解析所得的数据规模和数值分布特点确定稳定、高效、准确的后续处理算法，完成CCD探测器各列杂散能量传递能力的测试。本发明主要用于PST杂散光测试数据处理，能够降低测试系统对于仪器设备的技术要求，具有较高的可移植性和通用性，可以满足各类杂散光测试数据处理的需求。
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公开(公告)号：CN106651793A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201611073975.2
申请日：2016-11-29
Applicant: 北京空间机电研究所
Abstract: 一种PST杂散光测试数据处理方法如下：(1)基于遥感相机PST特性以及CCD探测器性能的综合评估，反演出对于测环境杂散光的要求；(2)通过对不同状态下杂散光测试图像进行差分计算，分离、提取各类测试噪声在CCD探测器上的分布，从而完成测试噪声的剥离；(3)对剥离测试噪声后的测试图像进行数理分析，解析出图像数据的规模和数值的分布特点；(4)根据解析所得的数据规模和数值分布特点确定稳定、高效、准确的后续处理算法，完成CCD探测器各列杂散能量传递能力的测试。本发明主要用于PST杂散光测试数据处理，能够降低测试系统对于仪器设备的技术要求，具有较高的可移植性和通用性，可以满足各类杂散光测试数据处理的需求。
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公开(公告)号：CN109238656B
公开(公告)日：2021-07-13
申请号：CN201810796768.2
申请日：2018-07-19
Applicant: 北京空间机电研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 一种超大口径杂散光测试光源及其控制方法，通过桁架式曲面支架、光源和控制系统实现。桁架式曲面支架整体呈现为圆球形或者二次曲面形状，采用桁架式结构形成纵横网络，每一个网络节点放置一个万向调整装置。在每一个万向调节装置上放置两个光源，其中一个为平行光源，另一个为具有一定散射角的散射光源。当使用准直光源时，所有光源出射光构成近似平行光束，当使用散射光源时，所有光源出射光构成近似Lamb光源。进行杂散光测试时，控制系统可控制每一个万象调节装置，实现对于不同出射角度的光束调整；控制系统同时可以控制每一个光源的开关和强弱，实现对于光束大小和强弱的调整。本发明作为一种新颖的杂散光测试光源，规模小、加工制造方便，可应用于光学系统的杂散光测试，尤其适用于超大口径的杂散光测试。
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公开(公告)号：CN106840198B
公开(公告)日：2019-07-12
申请号：CN201611194034.4
申请日：2016-12-21
Applicant: 北京空间机电研究所
IPC: G01C25/00
Abstract: 一种微光相机辐射定标方法，首先采用光谱辐射计标定出级联式微光辐射定标系统中相邻两个级联积分球之间的光谱辐亮度传递系数，得到各辐亮度级次主积分球辐射出口处的光谱辐亮度；将待测微光相机置于热真空罐内，并采用微光相机自身光机结构组件作为隔离热真空罐内真空环境和罐外实验室环境的组件；调整热真空罐位置使微光相机光轴对准主积分球出口中心；热真空罐进行抽真空，抽真空完成后，对微光相机光机主体和焦面采取温控措施，使微光相机光机主体和焦面工作于其设计工作温度下；采集各辐亮度级次微光相机的辐射定标数据；分析相机辐射响应特性，完成定标。
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