一种变异测试方法及装置

    公开(公告)号:CN105302719B

    公开(公告)日:2017-11-28

    申请号:CN201510700704.4

    申请日:2015-10-26

    Abstract: 本发明提供一种变异测试方法及装置,能够降低执行时间和开销,提高变异测试效率。所述方法包括:将待测程序源代码划分为不同的程序块;确定属于目标程序块的变异体;利用并发机制,将所述待测程序源代码与属于目标程序块的变异体进行合成,得到变异程序。所述装置包括:程序块划分模块,用于将待测程序源代码划分为不同的程序块;变异体分布确定模块,用于确定属于目标程序块的变异体;变异程序合成模块,用于利用并发机制,将所述待测程序源代码与属于目标程序块的变异体进行合成,得到变异程序。本发明适用于软件测试技术领域。

    一种变异测试方法及装置

    公开(公告)号:CN105302719A

    公开(公告)日:2016-02-03

    申请号:CN201510700704.4

    申请日:2015-10-26

    Abstract: 本发明提供一种变异测试方法及装置,能够降低执行时间和开销,提高变异测试效率。所述方法包括:将待测程序源代码划分为不同的程序块;确定属于目标程序块的变异体;利用并发机制,将所述待测程序源代码与属于目标程序块的变异体进行合成,得到变异程序。所述装置包括:程序块划分模块,用于将待测程序源代码划分为不同的程序块;变异体分布确定模块,用于确定属于目标程序块的变异体;变异程序合成模块,用于利用并发机制,将所述待测程序源代码与属于目标程序块的变异体进行合成,得到变异程序。本发明适用于软件测试技术领域。

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