-
公开(公告)号：CN109405792B
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN201811504536.1
申请日：2018-12-10
Applicant: 北京科技大学
IPC: G01B21/30
Abstract: 本发明提供一种表面粗糙度检测装置及其操作方法，属于检测装置技术领域。该装置包括V形托盘和表面形貌检测装置，V形托盘用于放置待检测钢卷，表面形貌检测装置包括移动架、Z方向滑轨、表面测量组件、主机箱、运动操作面板和测量操作面板，移动架的底面上具有若干个万向轮，移动架的底面上设有相对设置的一对定位块，一对定位块实现表面形貌检测装置的对中，移动架上还设有一X方向滑轨，X方向滑轨上设有一滑块，Z方向滑轨与滑块滑动配合，表面测量组件设置在Z方向滑轨的下端，主机箱、运动操作面板和测量操作面板均设置在移动架上。本发明适用于轧辊、钢卷、钢带表面形貌检测、且使用方便。
-
公开(公告)号：CN117794257A
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202311831874.7
申请日：2023-12-28
Applicant: 国网河南省电力公司电力科学研究院 , 北京科技大学 , 国网河南省电力公司
Abstract: 本发明公开了一种基于二维器件组成的超薄短通道隧穿晶闸管结构，属于金属‑半导体技术领域。包括：衬底层结构、半导体模块、绝缘介质层模块、电极模块以及顶层结构；半导体模块位于衬底层结构的上方，且中间有间隙；绝缘介质层模块位于半导体结构的上方的一端；电极模块位于半导体结构的的上方的另一端，且不与绝缘介质层模块连接；顶层结构位于绝缘介质层模块上方；半导体模块采用二维半导体材料；绝缘介质层模块采用电介质材料；电极模块采用二维半金属电极材料和传统金属电极材料；二维半金属电极材料面内原子通过共价键结合，层间采用范德华堆叠。本发明中有助于基于二维半导体的晶闸管结构设计和优化，扩展新型半导体材料应用。
-
公开(公告)号：CN115598013A
公开(公告)日：2023-01-13
申请号：CN202211164571.X
申请日：2022-09-23
Applicant: 北京科技大学(CN)
Abstract: 本发明公开了一种基于流体卡断准则的微流控芯片设计方法，包括：构建孔喉通道的几何模型；根据所述孔喉通道的几何模型，结合孔喉通道的流体物理特性，构建用于分析流体在孔喉通道中是否发生卡断的数学物理模型；根据所述数学物理模型推导流体卡断准则；建立基于所述流体卡断准则的微流控芯片设计方法。本发明构建的流体卡断准则直观简捷，精准度高，只需将孔喉深度与喉道宽度、曲率半径和孔隙宽度进行比较，即可判断孔喉是否会导致流体卡断以及在何种条件下流体发生卡断，普适性强且适用场景广泛，可有效解决具有实现/避免流体卡断功能的微流控芯片设计问题。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108611651A
公开(公告)日：2018-10-02
申请号：CN201810439182.0
申请日：2018-05-09
Applicant: 北京科技大学
IPC: C25B1/00
Abstract: 本发明提供一种Ti3C2量子点的电化学制备方法，所述该方法利用Ti3AlC2电极片作为工作电极，铂丝作为参比电极或对电极，0.1M的氢氧化钠溶液作为电解液，通过恒电位法制备尺寸大约在15-20nm的Ti3C2量子点。在制备出Ti3C2量子点的基础上，还可以通过调节电解电压，来控制量子点的尺寸。制备出的Ti3C2量子点虽然光致发光强度较弱，但发射峰却很窄，说明其可作为良好的电子受体，从而在光催化领域有着广阔的前景。且这种量子点具有良好的抗氧化性能，在捕获羟基自由基以及检测双氧水均表现出较高的捕获效率和检测敏感度。不涉及任何有机溶剂、腐蚀性强酸，具有绿色环保、生产成本低、易于产业化的优点。
-
公开(公告)号：CN109405792A
公开(公告)日：2019-03-01
申请号：CN201811504536.1
申请日：2018-12-10
Applicant: 北京科技大学
IPC: G01B21/30
Abstract: 本发明提供一种表面粗糙度检测装置及其操作方法，属于检测装置技术领域。该装置包括V形托盘和表面形貌检测装置，V形托盘用于放置待检测钢卷，表面形貌检测装置包括移动架、Z方向滑轨、表面测量组件、主机箱、运动操作面板和测量操作面板，移动架的底面上具有若干个万向轮，移动架的底面上设有相对设置的一对定位块，一对定位块实现表面形貌检测装置的对中，移动架上还设有一X方向滑轨，X方向滑轨上设有一滑块，Z方向滑轨与滑块滑动配合，表面测量组件设置在Z方向滑轨的下端，主机箱、运动操作面板和测量操作面板均设置在移动架上。本发明适用于轧辊、钢卷、钢带表面形貌检测、且使用方便。
-
公开(公告)号：CN109540080B
公开(公告)日：2021-02-02
申请号：CN201811504538.0
申请日：2018-12-10
Applicant: 北京科技大学
IPC: G01B21/30
Abstract: 本发明提供一种定位检测装置，属于检测装置技术领域。该装置包括定位框架、连接板、缓冲装置、距离传感器、粗糙度检测仪、万向调节系统、转接块和粗糙度仪夹块，定位框架采用三点式定位，定位框架通过缓冲装置与连接板相连，缓冲装置使定位框架与检测物料自动贴合，定位框架上设有距离传感器和万向调节系统，距离传感器位于万向调节系统的一侧，万向调节系统的主轴线与定位框架的上端面垂直，万向调节系统的调节轴上设有粗糙度检测仪。本发明装置使用方便、测量准确性高。
-
公开(公告)号：CN109540080A
公开(公告)日：2019-03-29
申请号：CN201811504538.0
申请日：2018-12-10
Applicant: 北京科技大学
IPC: G01B21/30
Abstract: 本发明提供一种定位检测装置，属于检测装置技术领域。该装置包括定位框架、连接板、缓冲装置、距离传感器、粗糙度检测仪、万向调节系统、转接块和粗糙度仪夹块，定位框架采用三点式定位，定位框架通过缓冲装置与连接板相连，缓冲装置使定位框架与检测物料自动贴合，定位框架上设有距离传感器和万向调节系统，距离传感器位于万向调节系统的一侧，万向调节系统的主轴线与定位框架的上端面垂直，万向调节系统的调节轴上设有粗糙度检测仪。本发明装置使用方便、测量准确性高。
-
公开(公告)号：CN209181762U
公开(公告)日：2019-07-30
申请号：CN201822064266.9
申请日：2018-12-10
Applicant: 北京科技大学
IPC: G01B21/30
Abstract: 本实用新型提供一种表面粗糙度检测装置，属于检测装置技术领域。该装置包括V形托盘和表面形貌检测装置，V形托盘用于放置待检测钢卷，表面形貌检测装置包括移动架、Z方向滑轨、表面测量组件、主机箱、运动操作面板和测量操作面板，移动架的底面上具有若干个万向轮，移动架的底面上设有相对设置的一对定位块，一对定位块实现表面形貌检测装置的对中，移动架上还设有一X方向滑轨，X方向滑轨上设有一滑块，Z方向滑轨与滑块滑动配合，表面测量组件设置在Z方向滑轨的下端，主机箱、运动操作面板和测量操作面板均设置在移动架上。本实用新型适用于轧辊、钢卷、钢带表面形貌检测、且使用方便。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
8
records
(took 0.039 seconds)
