集束微电极腐蚀电化学测量方法与装置

    公开(公告)号:CN1015742B

    公开(公告)日:1992-03-04

    申请号:CN89101808.5

    申请日:1989-04-01

    Inventor: 于朴 王旷 张文奇

    Abstract: 本发明涉及一种测量腐蚀样品表面电位分布与电流分布的电化学方法及装置。采用集束微电极,同时在集束微电极的不同位置上采集测量数据,大大缩短了测量时间,并实现了计算机控制和计算,可全面、清楚地了解腐蚀样品表面的腐蚀发展瞬态过程。

    集束微电极腐蚀电化学测量方法与装置

    公开(公告)号:CN1046042A

    公开(公告)日:1990-10-10

    申请号:CN89101808.5

    申请日:1989-04-01

    Inventor: 于朴 王旷 张文奇

    Abstract: 本发明涉及一种测量腐蚀样品表面电位分布与电流分布的电化学方法及装置。采用集束微电极,同时在集束微电极的不同位置上采集测量数据,大大缩短了测量时间,并实现了计算机控制和计算,可全面、清楚地了解腐蚀样品表面的腐蚀发展瞬态过程。

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