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发明公开
一种排除析出相干扰的金相显微图像分析方法及装置审中-实审

公开(公告)号：CN116630248A

公开(公告)日：2023-08-22

申请号：CN202310511546.2

申请日：2023-05-08

申请人： 北京科技大学

发明人： 班晓娟 , 张心怡 , 马博渊

IPC分类号： G06T7/00 , G06T5/30 , G06T5/00 , G06T7/11 , G06T7/136 , G06T7/62

摘要： 本发明公开了一种排除析出相干扰的金相显微图像分析方法及装置，所述方法包括：基于预设晶界分割模型，获取金相材料显微图像的晶界分割结果；基于预设析出相分割模型，获取金相材料显微图像的析出相分割结果；基于所述晶界分割结果和所述析出相分割结果，筛选出将析出相误识别为晶粒的错分晶粒；对所述错分晶粒进行矫正，合成正确分割结果。采用本发明的金相显微图像分析方案，能够针对性地纠正金相图像分析任务中由于析出相遮挡晶粒边界而造成晶粒边界误判的问题，进一步提高后续材料微结构表征的准确度，可广泛应用于金属材料领域中的图像分析、材料评价等方面，具有广泛的应用前景。