公开(公告)号：CN105786678B

公开(公告)日：2018-09-25

申请号：CN201410828201.0

申请日：2014-12-25

Applicant: 北京电子工程总体研究所

Inventor： 时旺 ,  孙日芬 ,  杨清伟

IPC: G06F11/34

Abstract: 本发明公开一种基于相关性模型的测试性预计方法，该方法通过明确产品的功能流向和各组成部件的相互连接关系、明确测试点的位置，表明各组成部件和测试点的相关性关系，建立产品的测试相关性模型；根据测试相关性模型得出相关性矩阵；通过对相关性矩阵的计算，得出产品的故障检测率和故障隔离率指标，从而完成对产品的测试性预计工作，解决工程预计法操作性不强的问题。该方法特别适用于产品研制初期，其各种故障模式的故障率、发生频率等数据无法准确获得时的产品测试性预计。

公开(公告)号：CN105787245A

公开(公告)日：2016-07-20

申请号：CN201410829891.1

申请日：2014-12-25

Applicant: 北京电子工程总体研究所

Inventor： 杨清伟 ,  孙日芬

IPC: G06F19/00

Abstract: 本发明公开一种基于修复率与库存量的备件优化方法，特别是一种用于在一定的费用约束条件下，考虑备件修复率的可修件库存配置优化方法。该方法利用平均备件缺货量作为目标函数，因其与备件供应密切相关，并可以通过备件库存量与备件修复率合理控制；还考虑了修复率对库存的影响，因而其所建的模型更接近于实际情况；该方法解决现有技术中的备件供应效能参数无法真实反映备件供应情况、难以控制、无法考虑备件修复率对库存影响等问题。

公开(公告)号：CN105786678A

公开(公告)日：2016-07-20

申请号：CN201410828201.0

申请日：2014-12-25

Applicant: 北京电子工程总体研究所

Inventor： 时旺 ,  孙日芬 ,  杨清伟

IPC: G06F11/34

Abstract: 本发明公开一种基于相关性模型的测试性预计方法，该方法通过明确产品的功能流向和各组成部件的相互连接关系、明确测试点的位置，表明各组成部件和测试点的相关性关系，建立产品的测试相关性模型；根据测试相关性模型得出相关性矩阵；通过对相关性矩阵的计算，得出产品的故障检测率和故障隔离率指标，从而完成对产品的测试性预计工作，解决工程预计法操作性不强的问题。该方法特别适用于产品研制初期，其各种故障模式的故障率、发生频率等数据无法准确获得时的产品测试性预计。